當前位置:上海光密儀器有限公司>>物理儀器>> 9J光切法顯微鏡
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號9J
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地上海
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更新時間:2025-01-13 07:30:43瀏覽次數(shù):329次
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光切法顯微鏡9J 以光切法測量零件加工表面的微觀不平度。能判別國家標準GB 1031–68所規(guī)定▽3~▽9級表面光潔度(表面粗糙度12.5–0.2 )。
對于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來進行測量。
光切法特點是在不破壞表面的狀況下進行的,是一種間接測量方法,即要經(jīng)過計算后才能確定紋痕的不平度。
| 測量范圍不平度 平均高度值(um) | 表面光潔度級別 | 所需物鏡 | 總放大倍數(shù) | 物鏡組件 工作距離(mm) | 視場(mm) |
| >0.8-1.6 | 9 | 60倍N.A0.55 | 510倍 | 0.04 | 0.3 |
| >1.6-6.3 | 8-7 | 30倍N.A0.40 | 260倍 | 0.2 | 0.6 |
| >6.3-20 | 6-5 | 14倍N.A0.20 | 120倍 | 2.5 | 1.3 |
| >20-80 | 4-3 | 7倍N.A0.12 | 60倍 | 9.5 | 2.5 |
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