LED壽命測試系統(tǒng)  

    針對LED進(jìn)行壽命測試，設(shè)備硬件依據(jù)LM-80標(biāo)準(zhǔn)測試方法開發(fā)設(shè)計(jì)，*符合LM-80測試要求。該系統(tǒng)可精確設(shè)定高低溫環(huán)境，使LED暴露在高溫環(huán)境下，同時(shí)又精確控制LED結(jié)溫，使LED在高溫條件下老化，加速其光度衰減。并可根據(jù)不同時(shí)間節(jié)點(diǎn)的測試數(shù)據(jù)，推算出LED的壽命。系統(tǒng)設(shè)計(jì)極為人性化，LED老化設(shè)備方便與積分球系統(tǒng)對接測量，有效的提高測量效率。