【方科】植物冠層分析儀在現(xiàn)代植物表型研究中發(fā)揮著重要的作用。我們知道植物表型研究是需要較多的現(xiàn)代的技術及儀器設備進行輔助的。它主要是通過研究植物的外在表型與植物的生長環(huán)境、遺傳因子等關系進行研究的。而植物冠層作為植物的重要結構在植物表型研究中有著重要的作用。

　　我們知道的植物的光合作用主體是植物冠層，因此當植物光照環(huán)境發(fā)生變化時，植物通過調(diào)整形態(tài)結構來獲得更好的生長環(huán)境，這是植物自身適應性的直接表現(xiàn)。而準確的結構參數(shù)獲取是了解植物形態(tài)特征對環(huán)境的響應機制的重要基礎，因此植物冠層分析儀在這類研究中十分受歡迎。例如，在黃瓜冠層結構的研究中就有使用。

　　在現(xiàn)代研究中為了研究黃瓜葉片在冠層內(nèi)部光環(huán)境梯度變化的條件下，葉片結構對光環(huán)境的響應，需要考慮黃瓜葉片大小、葉柄長短、節(jié)間長短、方位角、葉傾角、柄節(jié)夾角等多個形態(tài)結構參數(shù)；從而了解構建了器官發(fā)生和擴展隨有效積溫的變化規(guī)律、葉片方位角和葉傾角分布規(guī)律等。才能進一步分析黃瓜葉片在不同方位區(qū)域、不同冠層高度的異質(zhì)性分布特征。

　　通過植物冠層分析儀、葉面積儀等儀器數(shù)據(jù)圖像可以發(fā)現(xiàn)黃瓜葉片的傾斜角和方位角分布均受到光環(huán)境的明顯影響，與決定冠層內(nèi)透光量的葉片數(shù)、株行距、葉面積指數(shù)、太陽高度等參數(shù)有明顯的相關關系。