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更新時間：2026-09-07 17:34:52瀏覽次數(shù)：36次
聯(lián)系我時，請告知來自 儀表網(wǎng)GDS-80A晶振測試儀支持寬頻段測量，具備溫度特性分析功能，適用于實驗室分析和生產(chǎn)線質(zhì)量控制的晶體振蕩器參數(shù)測試。
GDS-80A晶振測試儀是專為電子元器件制造和研發(fā)領(lǐng)域設(shè)計的晶體參數(shù)測試系統(tǒng)。儀器內(nèi)置銣鐘時基選件，測量精度可達(dá)±0.001ppm，滿足通信基站和衛(wèi)星導(dǎo)航用精密晶振的測試需求。
核心功能：
1. 諧振頻率精確測量：支持串聯(lián)諧振和并聯(lián)諧振模式
2. 負(fù)載電容特性測試：內(nèi)置可編程負(fù)載電容陣列，范圍1pF至52pF
3. 等效串聯(lián)電阻（ESR）測量：自動判斷晶振起振能力
4. 激勵功率精確控制：0.1μW至10mW連續(xù)可調(diào)，功率穩(wěn)定度優(yōu)于±3%
5. 溫度特性分析：選配溫控腔體，支持-55℃至+150℃全溫區(qū)掃描
技術(shù)規(guī)格：
- 頻率范圍：1kHz～200MHz
- 頻率分辨力：0.001Hz
- 測量精度：±0.01ppm（標(biāo)配），±0.001ppm（銣鐘選件）
- 溫度控制精度：±0.1℃
- 測量參數(shù)：頻率、ESR、C0、L1、C1、Q值、RL
- 數(shù)據(jù)存儲：內(nèi)置32GB存儲空間，可保存百萬條測試記錄
軟件功能：
- 符合IEC60444-6國際測試標(biāo)準(zhǔn)
- 支持自動化批量測試，可自定義測試流程
- 頻率溫度特性曲線自動繪制，支持三次多項式擬合
- 支持MES系統(tǒng)數(shù)據(jù)對接，實現(xiàn)品質(zhì)數(shù)據(jù)全流程追溯
GDS-80A晶振測試儀是電子制造企業(yè)提升產(chǎn)品品質(zhì)的理想選擇，其出色的測量能力和豐富的功能使其在行業(yè)中具有廣泛的應(yīng)用前景。
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