北京冠遠(yuǎn)科技有限公司
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更新時(shí)間:2020-06-11 09:30:28瀏覽次數(shù):686次
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Autoscan裂變徑跡定年及分析系統(tǒng)圖像采集采用的是原廠工業(yè)級高分辨率彩色CCD或CMOS,量和統(tǒng)計(jì)限定型自發(fā)裂變徑跡長度,計(jì)算裂變徑跡長度分布直方圖從而推斷出所經(jīng)歷的熱歷史,裂變徑跡定年及分析系統(tǒng),包括全自動研究級顯微鏡
Autoscan裂變徑跡定年及分析系統(tǒng)圖像采集采用的是原廠工業(yè)級高分辨率彩色CCD或CMOS,量和統(tǒng)計(jì)限定型自發(fā)裂變徑跡長度,計(jì)算裂變徑跡長度分布直方圖從而推斷出所經(jīng)歷的熱歷史,裂變徑跡定年及分析系統(tǒng),包括全自動研究級顯微鏡、裂變徑跡自動統(tǒng)計(jì)分析軟件和配套數(shù)據(jù)處理設(shè)備,精度掃描載物臺:高精度3軸壓電驅(qū)動含位置編碼,具有X、Y方向操作。移動范圍不小于130 mm x85mm,步距為0.1μm,重復(fù)精度小于1.0μm,實(shí)現(xiàn)自動進(jìn)行多視場的分析及統(tǒng)計(jì)測量。能與調(diào)焦機(jī)構(gòu)連接,實(shí)現(xiàn)*的自動Z軸自動聚焦,分辨率小于25nm。
主要應(yīng)用范圍:
1.通過統(tǒng)計(jì)裂變徑跡數(shù):采用熱中子照射法測算從地質(zhì)體中采集的磷灰石或鋯石的退火年齡;
2.裂變徑跡長度統(tǒng)計(jì):測量和統(tǒng)計(jì)限定型自發(fā)裂變徑跡長度,計(jì)算裂變徑跡長度分布直方圖從而推斷出所經(jīng)歷的熱歷史。
可開展的研究項(xiàng)目:
盆-山耦合關(guān)系研究:近期通過盆地充填序列中未重置碎屑磷灰石的裂變徑跡測年,研究造山帶(源區(qū))晚白堊世以來的隆升-剝露過程比較有成效.但通過未重置碎屑鋯石的裂變徑跡試驗(yàn),重建晚三疊世以來的盆-山耦合與造山帶隆升歷史 還是有待解決的科學(xué)難題。
Autoscan裂變徑跡定年及分析系統(tǒng)統(tǒng)計(jì)受熱中子照射的磷灰石、鋯石等單礦物的裂變徑跡數(shù)量,計(jì)算礦物的退火年齡;測量裂變徑跡長度,統(tǒng)計(jì)裂變徑跡長度分布,測量徑跡與C軸的夾角、Dpar、Dper值,根據(jù)裂變徑跡長度的分布模擬熱演化歷史,物鏡轉(zhuǎn)換器:7孔對中物鏡轉(zhuǎn)換器含位置編碼,物鏡均可對中調(diào)節(jié),增加標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)空間,裂變徑跡定年及分析系統(tǒng),包括全自動研究級顯微鏡、裂變徑跡自動統(tǒng)計(jì)分析軟件和配套數(shù)據(jù)處理設(shè)備。
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