表面輻射沾污劑量?jī)x Inspector EXP為您提供了快速、 精確、便捷的輻射檢測(cè)手段。表面輻射沾污劑量?jī)x Inspector EXP采用GM探測(cè)方法，用以監(jiān)測(cè)放射性工作場(chǎng)所和表面 ,實(shí)驗(yàn)室的工作臺(tái)面、地板、墻壁、手、衣服、鞋的α、β、γ和X放射性污染計(jì)數(shù)測(cè)量以及環(huán)境劑量率，是一款性價(jià)比高的輻射測(cè)量?jī)x器。

主要特點(diǎn)

常用于：
1.檢查局部的輻射泄露和核輻射污染；
2.檢查周圍環(huán)境的氡輻射；
3.檢查石材等建筑材料的放射性；
4.檢查有核輻射危險(xiǎn)的填埋地和垃圾場(chǎng)；
5.檢測(cè)從科研到工業(yè)用的X射線儀器的X射線輻射強(qiáng)度；
6.檢查地下水鐳污染；
7.檢查地下鉆管和設(shè)備的放射性；
8.監(jiān)視核反應(yīng)堆周圍空氣和水質(zhì)的污染；
9.檢查個(gè)人的貴重財(cái)產(chǎn)和珠寶的有害輻射；
10.檢查瓷器餐具玻璃杯等的放射性；
11.精確定位輻射源；
12.家居裝飾的檢測(cè)。

技術(shù)參數(shù)

1、四位液晶顯示
2、檢測(cè)α、β、γ和X射線
3、計(jì)數(shù)測(cè)量、總計(jì)數(shù)測(cè)量和劑量率測(cè)量
4、1分-24小時(shí)定時(shí)測(cè)量
5、zui低響應(yīng)能量：20Kev（γ射線），對(duì)Cs-137源為5.8Cps/μSv/h；
探測(cè)下限：對(duì)I-125是0.02微居;
6、效率（4π）：接觸下：對(duì)Sr-90源約38%，C-14源約5.3%；P32源約33%；Co-60源約3%
7、外接G-M 計(jì)數(shù)管探頭,有效直徑45mm,云母窗密度1.5-2.0mg/Cm?；
8、精度 μSv/h：≤500μSv/h；范圍時(shí)≤15%，在500-1000μSv/h范圍≤20%；
CPS：≤2500 CPS范圍時(shí)≤15% ， 在2500-5000CPS范圍≤20%；
9、測(cè)量單位：該檢測(cè)儀常用單位（Mr/h或CPM）或SI單位（μSv/h或CPS）