當前位置：無錫市金義博儀器科技有限公司>>產(chǎn)品展示>>X熒光光譜儀
一、概述X熒光分析技術是一種常規(guī)分析手段，開始于20世紀50年代初，經(jīng)歷了50多年的不斷發(fā)展，現(xiàn)在已成為物質(zhì)組成分析的方法之一
適用范圍：可對各類材料成分除碳元素（C）外的其它元素進行定性及及定量分析，包括對其它同類儀器難以分析的Mg、Al、Si、S、P、Mn等元素也有較好的表現(xiàn)
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