為什么要基于過飽和度控制煮糖呢？

高質(zhì)量糖的生產(chǎn)依賴于晶體生長，而過飽和正是促進晶體生長的原動力。結(jié)晶速度是多個參數(shù)的函數(shù)。過飽和度的定義為：母液的實際糖濃度與相同溫度下的飽和糖濃度的比值。

過飽和度有一個最佳范圍，在這個范圍內(nèi)，糖晶體均勻而廣泛地生長，達到所需的晶體粒度。在此范圍之外，晶體將停止生長，甚至可能自然熔化或開始形成新晶體，產(chǎn)生需要回溶再加工的粉晶和黏晶。這會帶來重大影響，因為這種情形會導(dǎo)致時間和能源的浪費、增加生產(chǎn)成本和水的消耗，并減少糖的有效產(chǎn)量。

為了制定能夠解決這些難題的基于過飽和度的控制解決方案，工廠為煮糖罐配備了維薩拉 K-PATENTS® SeedMaster SM-3 系統(tǒng)，該系統(tǒng)能夠為過飽和度計算提供實時數(shù)據(jù)。SeedMaster 專為糖結(jié)晶應(yīng)用場景而設(shè)計。該系統(tǒng)由在線折光儀和多參數(shù)監(jiān)測設(shè)備組成，可提供糖結(jié)晶所需的參數(shù)，并能夠支持全自動控制解決方案的實施。