測(cè)量范圍

測(cè)量范圍依賴(lài)于樣品和儀器。對(duì)于金樣品，顆粒跟蹤技術(shù)的檢測(cè)下限為10nm；相應(yīng)的，如果樣品的散射能力較弱，則檢測(cè)下限會(huì)變得更大。假如樣品穩(wěn)定，不會(huì)沉淀或漂浮，zeta電位測(cè)量的粒徑上限為50微米，對(duì)于粒徑測(cè)量為3微米。

源于視頻分析的顆粒計(jì)數(shù)

顆粒濃度可通過(guò)視頻分析得到，并歸一化處理，散射體積對(duì)粒徑?？蓹z測(cè)的最小濃度為105粒子/cm3，最大為1010粒子/cm3。對(duì)于200nm的顆粒，最大體積濃度為1000ppm。

方法

Zetaview激光散射顯微鏡對(duì)于低于1微米衍射極限100倍的納米粒子是非常敏感的。