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更新時間:2026-03-18 07:54:29瀏覽次數(shù):965次
聯(lián)系我時,請告知來自 儀表網(wǎng)全反射X射線熒光光譜儀 (TXRF)S4 TStar
簡化了TXRF方法,適合7天24小時日常運行,同時保證數(shù)據(jù)質(zhì)量,非常適合用于超微量元素檢測,應(yīng)用領(lǐng)域廣泛。
產(chǎn)品特點:
不僅顯著改善了檢測限值,而且設(shè)有自動質(zhì)控流程,提供了有用的例行程序,并具備*的通用性,適用于多種類型的樣品和載體。
S4 TStar — TXRF的明星
數(shù)十年來,X 射線熒光(XRF)光譜法在多個行業(yè)中被廣泛用于對固體和石油化工樣品進行元素分析,檢測限值低于PPb 量級。TXRF 擴展了XRF 的應(yīng)用范圍,可以分析液體樣品、懸浮液和膜片中的超微量元素。因此,TXRF 成為原子吸收光譜法(AAS)以及電感耦合等離子體發(fā)射光譜法(ICP-OES)或質(zhì)譜法(ICP-MS)的理想的替代性方法。現(xiàn)在,S4 TStar 在臺式TXRF 光譜儀的性能、自控和質(zhì)量方面開創(chuàng)了新的標(biāo)準(zhǔn)。
優(yōu)異的樣品通用性
S4 TStar 是一種通用性很強的工具,可以分析不同反射載體上的多種類型的樣品。它的樣品通用性優(yōu)于ICP。
ICP 只能分析*溶解的液體樣品。
30 毫米石英片:對液體、固體和懸浮液進行元素分析
2 英寸晶片:污染分析、深度剖析和材料科學(xué)研究
顯微鏡載玻片:臨床和生物學(xué)樣品,直接分析細(xì)胞培養(yǎng)物、涂片和切片
54 毫米以下的矩形載體:膜片、濾片、納米顆粒層
任何定制的反射介質(zhì)
行業(yè)應(yīng)用:
藥品
檢測活性藥物成分中的催化元素:液體或丸粒中的鉛含量小于0.1 / 0.5ppm
食品
糧農(nóng)組織和世衛(wèi)組織的食品安全標(biāo)準(zhǔn):大米中的砷含量小于10 / 40ppb。
環(huán)境監(jiān)測
環(huán)境監(jiān)測:地表水,廢水、污泥和核廢液中的污染物含量小于1 / 10ppb。
X射線熒光光譜儀技術(shù)參數(shù)
元素范圍: Mo靶激發(fā) Al to U (除Nb to Ru之間的元素)
W靶激發(fā) K to U含量范圍: ppb to 99%
檢出限:< 10 pg Ni (Mo靶激發(fā))
< 2 pg Ni (Mo靶激發(fā)高效模式)
樣品類型:液體、懸浮液、粉末、顆粒、金屬、薄膜、組織、濾膜、擦拭物
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