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簡(jiǎn)單介紹:AT2817 采用高性能處理器,使用真彩色LCD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。依賴于安柏的技術(shù),使其性能無可挑剔。內(nèi)建50Hz~100kHz 10點(diǎn)測(cè)試頻...
簡(jiǎn)單介紹:AT2816A 第2版[2011款] 已升級(jí)為連續(xù)頻率,頻率步進(jìn)0.001Hz。采用了真彩 TFT-LCD,全中文操作界面(可配置成英文界面),使用*...
簡(jiǎn)單介紹:同惠TH2838 精密LCR數(shù)字電橋同惠TH2838 精密LCR數(shù)字電橋
簡(jiǎn)單介紹:AT825手持LCR 數(shù)字電橋采用高性能32位ARM微處理器控制。超低功耗設(shè)計(jì)和高密度SMD裝配工藝,2.8英寸真彩16M色TFT液晶顯示屏,主副參數(shù)...
簡(jiǎn)單介紹:AT2811是通用LCR數(shù)字電橋,采用高性能微處理器控制的微型臺(tái)式儀器。四檔測(cè)試頻率 100Hz~10kHz,0.1V、0.3V 和 1V 電平可選,...
簡(jiǎn)單介紹:安柏AT810D LCR 數(shù)字電橋安柏AT810D LCR 數(shù)字電橋AT810D采用高能處理器,使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。大規(guī)模的貼...
簡(jiǎn)單介紹:AT824手持LCR數(shù)字電橋采用高性能32位ARM微處理器控制。超低功耗設(shè)計(jì)和高密度SMD裝配工藝,2.8英寸真彩16M色TFT液晶顯示屏,主副參數(shù)同...
簡(jiǎn)單介紹:同惠TH2826A LCR數(shù)字電橋同惠TH2826A LCR數(shù)字電橋
簡(jiǎn)單介紹:AT826手持LCR 數(shù)字電橋采用高性能32位ARM微處理器控制。超低功耗設(shè)計(jì)和高密度SMD裝配工藝,2.8英寸真彩16M色TFT液晶顯示屏,主副參數(shù)...
簡(jiǎn)單介紹:同惠TH2829A 自動(dòng)元件分析儀同惠TH2829A 自動(dòng)元件分析儀
簡(jiǎn)單介紹:依賴于專業(yè)的安柏智能儀器技術(shù),打造出至今體積*小的臺(tái)式數(shù)字電橋。100Hz,120Hz,1kHz和10kHz四檔測(cè)試頻率,可測(cè)試L, C, R, Z,...
簡(jiǎn)單介紹:同惠TH2829C 自動(dòng)元件分析儀同惠TH2829C 自動(dòng)元件分析儀
簡(jiǎn)單介紹:AT817D采用高能處理器,使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。精簡(jiǎn)了AT817的部分功能,內(nèi)建50Hz~100kHz 10點(diǎn)測(cè)試頻率,并且提...
簡(jiǎn)單介紹:中國(guó)臺(tái)灣固緯LCR-8101G測(cè)試儀特點(diǎn)寬廣的測(cè)試頻率范圍20Hz~1MHz 0.1%基本**度 6位解析度 DC電阻測(cè)量 帶有被測(cè)元件電壓/電流監(jiān)控...
簡(jiǎn)單介紹:同惠TH2832 精密LCR數(shù)字電橋同惠TH2832 精密LCR數(shù)字電橋
簡(jiǎn)單介紹:特點(diǎn)測(cè)試頻率:12Hz ~ 10kHz,可連續(xù)調(diào)節(jié)0.1% 高測(cè)量準(zhǔn)確度100 組設(shè)定條件記憶儲(chǔ)存、調(diào)取功能R/Q, C/D, C/R, L/Q, Z...
簡(jiǎn)單介紹:特點(diǎn)※ 寬廣的測(cè)試頻率范圍20Hz~10MHz※ 0.1%基本**度※ 6位解析度※ DC電阻測(cè)量※ 帶有被測(cè)元件電壓/電流監(jiān)控的測(cè)量功能※ 帶有判斷...
簡(jiǎn)單介紹:特點(diǎn)測(cè)試頻率:12Hz ~ 100kHz,可連續(xù)調(diào)節(jié)0.1% 高測(cè)量準(zhǔn)確度100 組設(shè)定條件記憶儲(chǔ)存、調(diào)取功能R/Q, C/D, C/R, L/Q, ...
簡(jiǎn)單介紹:特點(diǎn)測(cè)試頻率:12Hz ~ 200kHz,可連續(xù)調(diào)節(jié)0.1% 高測(cè)量準(zhǔn)確度100 組設(shè)定條件記憶儲(chǔ)存、調(diào)取功能R/Q, C/D, C/R, L/Q, ...
簡(jiǎn)單介紹:測(cè)試頻率:100Hz ~ 2kHz, 245 點(diǎn) 0.1% 高測(cè)量準(zhǔn)確度100 組設(shè)定條件記憶儲(chǔ)存、調(diào)取功能 R/Q, C/D, C/R, L/Q 測(cè)...
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