翌穎科技（上海）有限公司
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產(chǎn)品型號F40
品 牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地上海
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更新時(shí)間：2024-09-24 07:35:03瀏覽次數(shù)：659次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來自 儀表網(wǎng)Filmetrics-F40薄膜厚度測量儀-膜厚儀 結(jié)合顯微鏡的薄膜測量系統(tǒng) Filmetrics F40 SS-Microscope-VIS-1系統(tǒng) Filmetrics F40-UV SS-Microscope-UVX-1系統(tǒng) Filmetrics的精密光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速
Filmetrics F40 SS-Microscope-VIS-1系統(tǒng) Filmetrics F40-UV SS-Microscope-UVX-1系統(tǒng) Filmetrics的精密光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測量結(jié)果。 當(dāng)測量需要在待測樣品表面的某些微小限定區(qū)域進(jìn)行，或者其他應(yīng)用要求光斑小至1微米時(shí)，F(xiàn)40是選擇。使用先前足部校正顯微鏡的物鏡，再進(jìn)行測量，即可獲得精準(zhǔn)的厚度及光學(xué)參數(shù)值。只要透過Filmetrics的C-mount連接附件，F(xiàn)40就可以和市面上多數(shù)的顯微鏡連接使用。C-mount上裝備有CCD攝像頭，可以讓用戶從電腦屏幕上清晰地看樣品和測量位置。 * 取決于材料 1.使用5X物鏡參考 2.是基于連續(xù)20天，每天在Si基底上對厚度為500納米的SiO2 薄膜樣品連續(xù)測量100次所得厚度值的標(biāo)準(zhǔn)偏差的平均值 3.是基于連續(xù)20天，每天在Si基底上對厚度為500納米的SiO2薄膜樣品連續(xù)測量100次所得厚度值的2倍標(biāo)準(zhǔn)偏差的平均值 桌面式薄膜厚度測量的 24小時(shí)電話，和在線支持 所有系統(tǒng)皆使用直觀的標(biāo)準(zhǔn)分析軟件 嵌入式在線診斷方式 免費(fèi)離線分析軟件 精細(xì)的歷史數(shù)據(jù)功能，幫助用戶有效地存儲(chǔ)，重現(xiàn)與繪制測試結(jié)果 半導(dǎo)體制造 生物醫(yī)學(xué)原件 ? 光刻膠 ? 聚合物/聚對二甲苯 ? 氧化物/氮化物 ? 生物膜/球囊壁厚度 ? 硅或其他半導(dǎo)體膜層 ? 植入藥物涂層 微電子 液晶顯示器 ? 光刻膠 ? 盒厚 ? 硅膜 ? 聚酰亞胺 ? 氮化鋁/氧化鋅薄膜濾鏡 ? 導(dǎo)電透明膜Filmetrics-F40薄膜厚度測量儀
結(jié)合顯微鏡的薄膜測量系統(tǒng)
選擇Filmetrics的優(yōu)勢
附加特性
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