熔接接頭的故障診斷和排除
熔接是指利用電弧將兩根光纖熔接在一起，通常用于連接250微米外部設(shè)備光纖和建筑物外接口處的900微米內(nèi)部設(shè)備光纖，利用精密切割機(jī)正確切割光纖后，再通過熔接機(jī)實(shí)現(xiàn)熔接。對于單根光纖或12芯光纖帶狀電纜的熔接，可以通過多路熔接來完成，一次熔接所有12根光纖。
熔接具有低損耗和極小反射率，被認(rèn)為是連接兩根光纖的非常強(qiáng)且可靠的方法。只要正確進(jìn)行，熔接接頭的損耗可低于0.1dB。接下來讓我們仔細(xì)研究一下這些高性能連接點(diǎn)的定位和故障診斷方面的注意事項。

識別問題 解決問題
利用高質(zhì)量的切割和熔接機(jī)，很容易實(shí)現(xiàn)正確熔接。但是，如果接頭和膨脹部分沒有沿著熔纖盤的導(dǎo)線板正確地放置在熔纖盤內(nèi)，則可能會導(dǎo)致超出光纖的彎曲半徑。
如要定位這種類型的應(yīng)力，您可能需要測試兩種波長：多模為850和1300nm；單模為1310和1550。在較長波長下，受應(yīng)力的光纖將顯示出明顯較高的損耗，而通常較長波長會顯示較低損耗。您可能還需要利用VFL來確定問題是否出現(xiàn)在破裂或扭曲的光纖，而不是尾纖連接器，因為軌跡上的事件通常會出現(xiàn)在連接器附近。
雙向測試也很重要。如果尾纖與其正在熔接的光纖之間存在反向散射不匹配，則將在一個方向上看起來像增益(即負(fù)損耗)，在另一個方向上有過多損耗(即虛假損耗)。如果從兩個方向進(jìn)行測試，并對損耗進(jìn)行平均，則可獲得實(shí)際損耗。
為了簡化雙向測試，福祿克OptiFiber Pro光纖測試儀OFP2-100-Q內(nèi)置了一個“SmartLoop OTDR”助手，在雙芯光纖鏈路的遠(yuǎn)端使用一個環(huán)路，這樣您就可從一端進(jìn)行雙向測試。福祿克OptiFiber Pro光纖測試儀OFP2-100-Q還內(nèi)置有平均功能，可將兩個測量結(jié)果進(jìn)行平均，從而提供準(zhǔn)確的損耗測量值。