詳細(xì)摘要： 對(duì)于硅來說，缺陷分辨率≥100μm;對(duì)于比較大、重的樣品必須根據(jù)外形來自定義裝載端口和掃描頭）4通道系統(tǒng)，保障獲得高性能的吞吐能力；高分辨率的探頭陣列，可檢測1...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-03-23 在線留言科視達(dá)（中國）有限公司
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科視達(dá)（中國）有限公司
詳細(xì)摘要： 對(duì)于硅來說，缺陷分辨率≥100μm;對(duì)于比較大、重的樣品必須根據(jù)外形來自定義裝載端口和掃描頭）4通道系統(tǒng)，保障獲得高性能的吞吐能力；高分辨率的探頭陣列，可檢測1...
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詳細(xì)摘要： 主要技術(shù)參數(shù)：機(jī)械部分：驅(qū)動(dòng)：磁力驅(qū)動(dòng)掃描范圍：最小60×60μm 2×2mm分辨率：小于5μm放大倍數(shù)：125×—2000×光學(xué)顯微鏡：倒置顯微鏡（如奧林巴斯...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-03-23 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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