膜厚測試儀經過多年的發(fā)展，已經有了很大的進步。我們測量膜厚的方法有很多，這些方法也各有各的使用應用特點，我們還是需要增加對于他們的了解。今天我們一六儀器的小編就來跟大家介紹一下膜厚測試儀的幾種測試方法。

　　1.金相顯微鏡法：利用顯微鏡光學原理，對物體進行放大，可以觀察到物體表面或斷面的金相顯微結構。

　　應用特點：破壞性測試，耗時長，價格昂貴。

　　2.庫倫法：根據庫侖定律,以溶解鍍層金屬消耗的電量、溶解鍍層面積、鍍層金屬的電化當量、密度以及陽極溶解的電流效率計算鍍層的局部厚度。

　　應用特點：破壞性測試，耗時長，消耗電解液，測量范圍小。測量直徑2mm以上。

　　3.磁性法：利用磁通量隨涂膜的非磁性層在磁體和底材之間厚度的變化而變化的原理來測定磁性金屬(鐵基)底材上的涂膜厚度。

　　應用特點：便攜式，精度差，應用范圍窄。測量直徑2mm以上。

　　4.電渦流法：利用感應渦流隨儀器探頭線圈與基礎金屬間涂膜厚度的大小變化來測定非磁性金屬(非鐵基)底材上非導電涂層膜厚。

　　應用特點：便攜式，精度差，應用范圍窄。測量直徑2mm以上。

　　5.X光射線法：X射線射到電鍍層表面，產生X射線熒光，根據熒光譜線元素能量位置及其強度確定鍍層組成及厚度。

　　應用特點：精確，測量鍍層范圍廣，能解決細微面積及超薄鍍層的測量。不但能快捷廣泛測量膜厚，還能分析成分。

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