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當(dāng)前位置:江蘇一六儀器有限公司>>技術(shù)文章>>決定EDXRF測(cè)厚儀性能的重要參數(shù),你知道嗎?
EDXRF測(cè)厚儀可用于檢測(cè)多層的成分及厚度,除了計(jì)算單層物質(zhì)的成分分析還要去計(jì)算多層成分及厚度,同時(shí)會(huì)遇到微小的樣品位置、復(fù)雜的樣品的形狀(改變形狀再測(cè)試厚度會(huì)變化)、上下層有相同元素等等檢測(cè)難題,所以它比其它EDXRF應(yīng)用更加復(fù)雜,這也是為什么EDXRF做ROHS重金屬、合金分析、貴金屬檢測(cè)等等的廠家很多,做測(cè)厚儀的很少、做得很好幾乎沒有的原因。決定EDXRF測(cè)厚儀性能的重要參數(shù)是什么?跟著X熒光光譜測(cè)厚儀廠家一六儀器來看一下吧。
決定EDXRF測(cè)厚儀性能的重要參數(shù)有三點(diǎn):最小測(cè)量面積;可否測(cè)量異形凹槽件;多鍍層,重復(fù)鍍層檢測(cè)能力。近年來國內(nèi)其他廠商得到國外Fp算法并且學(xué)會(huì)了應(yīng)用,目前有二、三家可以檢測(cè)簡單的多層鍍層,但是最小測(cè)量面積都在直徑0.5mm以上,無法變焦只能通過對(duì)焦應(yīng)付一些凹凸彎曲落差不大的樣品,也無法測(cè)試重復(fù)鍍層和輕元素。
江蘇一六儀器有限公司坐落于蘇州昆山市,是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)的企業(yè)。公司的研發(fā)團(tuán)隊(duì)與海內(nèi)外專家通力合作,開創(chuàng)出了全新一代EFP算法,及高均值聚集光源的微光聚集技術(shù),在微小檢測(cè)面、異型探測(cè)面、多層多元素與多層同元素的檢測(cè)上,都具備好的表現(xiàn)。
以上就是X熒光光譜測(cè)厚儀廠家一六儀器對(duì)于X熒光光譜測(cè)厚儀的相關(guān)介紹,如果你想要了解更多內(nèi)容,歡迎聯(lián)系我們。一六儀器專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和服務(wù),在微小面積、異形高低面探測(cè)、多層多元素與多層同元素的檢測(cè)上,都具備更佳的表現(xiàn)。
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