上期我們說的是磁性式膜厚測厚儀特點、渦電流式膜厚測厚儀特點、紅外膜厚測厚儀特點，接下來說說電解式膜厚測厚儀、金相膜厚測試法、X-RAY膜厚測厚儀三種膜厚測厚儀。接下來一六小編說說膜厚測試儀器儀表種類介紹及特點。

　　電解式(庫倫法)

　　可以測量多層鍍膜，幾乎可測試目前所有常見的電鍍鍍層，其缺點則是操作過程繁復(fù),消耗品如藥水價格高代表機型: KOKI CT1及CT2。

　　電解式膜厚測厚儀特點:

　　1、價格經(jīng)濟，約1-5萬左右但具體的的材料要選擇不同的電解液和標(biāo)準(zhǔn)片且電解液和標(biāo)準(zhǔn)片 都是消耗品。消耗月價格高。

　　2、有損檢測標(biāo)準(zhǔn)片也是消耗品。操作復(fù)雜，體積較小，約10000cm2，3000g左右。

　　3 、測量厚度范圍較廣越厚越準(zhǔn)確。0.006~ 300um左右，能測試4層膜?厚，并且可以測量合金鍍層。

　　4、測量精度高，1%左右，分辨率高，0.001um左右。

　　5、測頭的面積較小，對需測的樣品要求不高: 1.7mmψ以上即可測量，基材厚度無要求。

　　金相測試法

　　對樣品進行切割、鑲埋、研磨拋光等前處理后，利用金相顯微鏡或者掃描電鏡等，直接放大幾百到幾萬倍量測其厚度。

　　金相膜厚測試法特點:

　　1、價格較高,所需要設(shè)備多整套設(shè)備大約需要幾十萬到上百萬。

　　2、直接測試厚度，較直觀不受密度等影響，測試準(zhǔn)確。

　　3、有損測試，破壞樣品。

　　4、前處理時間長。

　　非破壞熒光式( x光)

　　使用X射線進行波譜測量進而換算厚度，精度高,速度快，視機種可測試3-5層以上膜厚,

　　0.1mmψ以下面積也可測量。多層合金的成分含量也能計算。代表機型: XTU-5OB、XULM240、Thick800A。

　　X-RAY膜厚測厚儀特點：

　　1、價格高，機種不同價格在10萬~100萬左右，可測試P(磷) ~UO(鈾)A并且支持Rohs及元素分析功能等。

　　2、無損檢測Windows操作系統(tǒng) 使用簡便。操作快速能適應(yīng)多類鍍層。大量檢測，但體積較大，訐算機除外約100000cm250000g左右。

　　3、測量厚度范圍較廣0.002um~ 100um左右能測試5層以上膜厚并且可以測量合金鍍層，也可分析鍍層元素和含量比。

　　4、測量精度高, 1%左右;分辨率高0.001um左右。

　　5、 A測頭的面積較小對需測的樣品要求不高0.1mmψ以下也可測量，基材厚度無要求。

　　6、可編程XYZ測量臺及大移動范圍。

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