萊森光學（深圳）有限公司
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閱讀：250發(fā)布時間：2022-10-3
為了應對形態(tài)引起的反射率分布的變化，本文介紹了一種將最長葉片從中心到葉尖分成10部分的方法，請看詳情：
人們對利用高光譜成像記錄植物物種、基因型或生長條件之間差異的潛力抱有極大熱情。但是高光譜成像的應用通常是在高度受控的情況下：例如集中在葉片的平坦部分或植物側視圖，這在野外環(huán)境中很難獲得。
評估單個葉段
本文重點介紹了在一個典型的玉米田里收集自頂向下的玉米幼苗高光譜圖像。該圖像包括了植物中心漏斗狀的輪盤，幾個葉片向外輻射。結果發(fā)現(xiàn)不同部分的反射率曲線存在很大差異。為了應對這種形態(tài)引起的反射率分布的變化，本文實施了一種將最長的葉片從中心到葉尖分成10部分的方法。結果發(fā)現(xiàn)利用這些片段可以提高玉米幼苗區(qū)分不同基因型或非生物脅迫條件（熱、冷或鹽脅迫）的能力。另外本文還發(fā)現(xiàn)，在不同的玉米自交系基因型之間，成功對非生物脅迫條件進行分類的能力存在顯著差異。這提供了一種可用于田間環(huán)境幫助對玉米幼苗的基因型和環(huán)境變異進行分類的方法。
好了，以上就是有關高光譜成像儀可以監(jiān)測玉米基因型和生長狀況的介紹，希望可以幫助到大家哦~
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