時(shí)代TT260數(shù)字式覆層測(cè)厚儀使用說明書
時(shí)代TT260數(shù)字式覆層測(cè)厚儀的使用：
1.1 時(shí)代TT260數(shù)字式覆層測(cè)厚儀的基本測(cè)量步驟：
a) 準(zhǔn)備好待測(cè)試件；
b) 將測(cè)頭插頭插入主機(jī)的測(cè)頭插座中，旋緊鎖母；
c) 將測(cè)頭置于開放空間，按一下“ON/OFF”鍵，開機(jī)；
d) 檢查電池電壓；
說明 1：當(dāng)主機(jī)帶著打印機(jī)時(shí)，打印機(jī)上的開關(guān)應(yīng)置于OFF 處，再按“ON/OFF”鍵，開機(jī)；
說明 2：無BATT 顯示，表示電池電壓正常；BATT 出現(xiàn)，表示電池電壓已低落，應(yīng)立
即充電；開機(jī)時(shí)若電池電壓不足則顯示BATT 約1 秒鐘后自動(dòng)關(guān)機(jī)。
說明 3：長(zhǎng)期不用時(shí)應(yīng)將電源開關(guān)按出。使用時(shí)記住將電源開關(guān)按入后再按“ON/OFF”
鍵開機(jī)。
開機(jī)時(shí)正常情況下，開機(jī)后顯示上次關(guān)機(jī)前的測(cè)量值；如：
其中：“NON-FERROUS” ------ N 型測(cè)頭
“FERROUS” ------ F 型測(cè)
“D” ------ 直接方式
“數(shù)字” -------- 上次關(guān)機(jī)前的*后一次測(cè)量值。
e) 是否需要校準(zhǔn)儀器，如果需要，選擇適當(dāng)?shù)男?zhǔn)方法進(jìn)行；
f) 測(cè)量
迅速將測(cè)頭與測(cè)試面垂直地接觸并輕壓測(cè)頭定位套，隨著一聲鳴響，屏幕顯示測(cè)量值，
提起測(cè)頭可進(jìn)行下次測(cè)量；
g) 關(guān)機(jī)
在無任何操作的情況下，大約2~3min 后儀器自動(dòng)關(guān)機(jī)。按一下“ON/OFF”鍵，立即關(guān)機(jī)。
說明: 1. 如果在測(cè)量中測(cè)頭放置不穩(wěn)，顯示一個(gè)明顯的可疑值，按 CLEAR 鍵可刪除該值；
2. 重復(fù)測(cè)量三次或更多次后，按 STATS 鍵，將依次顯示五個(gè)統(tǒng)計(jì)量，即：平均
值（MEAN）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S.DEV）、測(cè)量次數(shù)（NO.）、*大測(cè)量值（MAX）、*小測(cè)量值（MIN）。
儀器的使用
1.2 時(shí)代TT260數(shù)字式覆層測(cè)厚儀的各項(xiàng)功能及操作方法：
1.2.1測(cè)量方式（單次測(cè)量⇔連續(xù)測(cè)量）
本小節(jié)詳細(xì)地介紹了本機(jī)的各種功能及其操作方法。
單次測(cè)量--測(cè)頭每接觸被測(cè)件1 次，隨著一聲鳴響，顯示一個(gè)測(cè)量結(jié)果；
連續(xù)測(cè)量--不提起測(cè)頭動(dòng)態(tài)測(cè)量，測(cè)量過程中不伴鳴響，屏幕閃顯測(cè)量結(jié)果；
兩種方式的轉(zhuǎn)換方法是：開機(jī)狀態(tài)下，按住STATS 鍵3 秒后，屏顯“- -” 后再抬起按鍵，則已轉(zhuǎn)入新的測(cè)量方式。
2.2.2工作方式（直接方式⇔成組方式）
直接（DIRECT）方式--此方式用于隨意性測(cè)量，測(cè)量值暫存在內(nèi)存單元（共有99個(gè)存貯單元），當(dāng)存滿99 個(gè)存貯單元時(shí)，新的測(cè)量值將替掉舊的測(cè)量值，也就是說總是*新的99 個(gè)測(cè)量值參與統(tǒng)計(jì)計(jì)算。
成組方式（APPL）--此方式便于用戶分批記錄所測(cè)試的數(shù)據(jù)，一組*多存99個(gè)數(shù)值，總共五組，可存495 個(gè)數(shù)值。每組當(dāng)存滿99 個(gè)數(shù)值時(shí)，屏幕將顯示“FFFF”，此時(shí)，仍可進(jìn)行測(cè)量，但是測(cè)量值只顯示不存儲(chǔ)，也不參與統(tǒng)計(jì)計(jì)算。需要時(shí)，可刪除該組數(shù)據(jù)，再進(jìn)行新的測(cè)量。
每組內(nèi)設(shè)有一個(gè)校準(zhǔn)值，即該組下各個(gè)數(shù)據(jù)都是基于這個(gè)校準(zhǔn)值測(cè)得的。每組內(nèi)可設(shè)限界，即可對(duì)該組中的測(cè)量結(jié)果進(jìn)行超限標(biāo)識(shí)和報(bào)警。成組方式下，每個(gè)測(cè)
量值都自動(dòng)進(jìn)入統(tǒng)計(jì)程序參與統(tǒng)計(jì)計(jì)算。因?yàn)槌山M方式下，可以存貯幾套基于不同
校準(zhǔn)值的測(cè)量數(shù)據(jù)，因此該方式特別適合于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。
注意：所有測(cè)量值都將自動(dòng)輸入統(tǒng)計(jì)（程序不適用于F1/90℃和N1/90℃測(cè)頭）。
兩種方式的轉(zhuǎn)換方法是：
a) 儀器開機(jī)后，自動(dòng)進(jìn)入直接工作方式，工作方式區(qū)顯示“D”。按“FILE”鍵，然后再按↑鍵，儀器進(jìn)入成組方式，工作方式區(qū)顯示“APPL”；
b) 用↑、↓鍵可選擇組號(hào)；
說明：1. 前兩位數(shù)表示該組中所存測(cè)量值的個(gè)數(shù)，一組*多存99個(gè)數(shù)值，2. 中間的“.” 表示該組中已有校準(zhǔn)值；
3. FX 表示組號(hào)，*多5 組。
c) 在成組方式中，按“↓”鍵，出現(xiàn)“F0”時(shí)，即轉(zhuǎn)入直接方式。
1.2.3時(shí)代TT260數(shù)字式覆層測(cè)厚儀的統(tǒng)計(jì)計(jì)算：
本儀器對(duì)測(cè)量值自動(dòng)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)處理，它需要至少三個(gè)測(cè)量值來產(chǎn)生5 個(gè)統(tǒng)計(jì)值：平均值（MEAN）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S.DEV）、測(cè)試次數(shù)（No.）、*大測(cè)試值（MAX）、*小測(cè)試值（MIN）。
a) 參加統(tǒng)計(jì)計(jì)算的測(cè)量值
在直接方式下所有測(cè)量值（包括關(guān)機(jī)前的測(cè)量值）均參加統(tǒng)計(jì)計(jì)算。
注意：當(dāng)存滿99 個(gè)存貯單元時(shí)，新的測(cè)量值將替代舊的測(cè)量值。存貯區(qū)內(nèi)保存*新的99 個(gè)測(cè)量值。
在成組方式下，參加統(tǒng)計(jì)計(jì)算的測(cè)量值于本組內(nèi)的數(shù)據(jù)。
注意：每組當(dāng)存滿99 個(gè)數(shù)值時(shí)，盡管測(cè)量能繼續(xù)，但不能修改統(tǒng)計(jì)值。需要時(shí)，可清除內(nèi)存單元，再進(jìn)行新的測(cè)量；
b) 顯示統(tǒng)計(jì)值
⊙ 在直接方式下，按“STATS”鍵，5個(gè)統(tǒng)計(jì)值將依次顯示。
⊙ 在成組方式下，選擇組號(hào)，按“STATS”鍵，該組下的5個(gè)統(tǒng)計(jì)值將依次顯示。
1.2.4存貯成組方式下測(cè)量值自動(dòng)存入內(nèi)存單元，一組*多存99個(gè)數(shù)值，總共五組，可存495個(gè)數(shù)值。
1.2.5刪除
刪除當(dāng)前測(cè)量值
無論在直接方式或成組方式下，只要在測(cè)量值顯示狀態(tài)，按一下“CLEAR”鍵，隨著一聲鳴響，當(dāng)前測(cè)量值已被刪除。
刪除直接方式下的所有測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、兩點(diǎn)校準(zhǔn)值
在直接方式測(cè)量值顯示狀態(tài)下，按二次“CLEAR” 鍵，隨著一聲長(zhǎng)鳴響，直接方式下的所有測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、兩點(diǎn)校準(zhǔn)值已被刪除。
刪除某組中的所有測(cè)量值，統(tǒng)計(jì)值選擇組號(hào)，按二次“CLEAR”鍵，隨著一聲長(zhǎng)鳴響，屏顯“00.Fx”，該組下的所有測(cè)量值，統(tǒng)計(jì)值已被刪除。
刪除某組中的限界
選擇組號(hào)，按“LIMITS”鍵，顯示限界值，再按“CLEAR”鍵，限界值消失。
刪除某組中的校準(zhǔn)值
當(dāng)該組中的測(cè)量數(shù)據(jù)為空時(shí)，按“CLEAR”鍵，則“00.Fx”中的“.”消失，校準(zhǔn)值已被刪除。
1.2.6設(shè)置限界
a) 按“LIMITS”鍵，顯示以前設(shè)置的下限，然后用↓、↑ 鍵設(shè)定新的下限值。
b) 再按“LIMITS”鍵，顯示以前設(shè)置的上限，然后通過↓、↑鍵設(shè)定新的上限值，
提示: 1. 限界僅在成組方式下有效；
2. 限界以外的測(cè)試結(jié)果由蜂鳴聲報(bào)警；
3. 限界以外的測(cè)試結(jié)果與其它測(cè)試結(jié)果一起被存貯并進(jìn)行統(tǒng)計(jì)計(jì)算。
4. 上限與下限的接近程度是有限的。在上限值為200μm 以上時(shí)，上、下限*小接近程度為上限的3%，在上限值為200μm 以下時(shí)，上、下限*小接近程度為5μm。
2.2.7打印
打印步驟：
a) 將打印頭插入主機(jī)；
b) 按 ON/OFF 鍵打開主機(jī)；
c) 將打印頭開關(guān)撥向“ON”；
d) 按“PRINT”鍵出現(xiàn)“PRINT”提示符；
e) 打印統(tǒng)計(jì)值--按“STATS”鍵，屏顯并打印統(tǒng)計(jì)值。每按一次打印一個(gè)統(tǒng)計(jì)值。
f) 單次打印--單次測(cè)量時(shí)測(cè)一個(gè)打一個(gè)。
g) 連續(xù)打印--在“F0”狀態(tài)下，再按“PRINT”鍵，則打印直接方式下的所有測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值。在“Fx” （x為1R 5）狀態(tài)下，按“PRINT”鍵，則打印該組方式下的所有測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、限界、直方圖。
h) 取消打印--按住“PRINT”鍵約3 秒鐘，屏幕上“PRINT”提示符消失，即已退出打印狀態(tài)。
注意: 1.在設(shè)置限界之后才能打印出直方圖;
2.關(guān)打印頭開關(guān)可中斷打印;
3.走紙：按 FEED 鍵，打印頭走紙。
1.2.8與PC 機(jī)通訊
與 PC 機(jī)通訊之前，按圖2-2 所示，用本儀器附帶的通訊電纜，將儀器與PC 機(jī)的串行接口連接好，并在PC 機(jī)上進(jìn)入本儀器的專用操作軟件Data View。
圖 2-2 連接PC 機(jī)
說明 1：本儀器與PC 機(jī)通訊，需使用時(shí)代Data View 專用操作軟件。操作方法請(qǐng)閱讀軟件使用說明書。
說明 2：本儀器與PC 機(jī)連通后，儀器屏幕上出現(xiàn)提示符。
1.2.9單位制式轉(zhuǎn)換（公制<=>英制）在儀器關(guān)閉狀態(tài)下，按住 ZERO 鍵再按ON 鍵，直到一聲鳴響，即已轉(zhuǎn)入到新的制式。
1.2.11關(guān)于測(cè)量和誤差的說明
如果已經(jīng)進(jìn)行了適當(dāng)?shù)男?zhǔn)，所有的測(cè)量值將保持在一定的誤差范圍內(nèi)；
根據(jù)統(tǒng)計(jì)學(xué)的觀點(diǎn)，一次讀數(shù)是不可靠的。因此任何由TT260 顯示的測(cè)量值都是五次"看不見"的測(cè)量的平均值。這五次測(cè)量是在幾分之一秒的時(shí)間內(nèi)由測(cè)頭和儀器完成的；
為使測(cè)量更加精確，可利用統(tǒng)計(jì)程序在一個(gè)點(diǎn)多次測(cè)量，粗大誤差用CLEAR 刪除，*后覆層的厚度為：CH = M+S+δ
其中: CH：覆層厚度
M：多次測(cè)量的平均值
S：標(biāo)準(zhǔn)方差
δ：儀器允許誤差
2 時(shí)代TT260數(shù)字式覆層測(cè)厚儀的校準(zhǔn)：
為使測(cè)量準(zhǔn)確，應(yīng)在測(cè)量場(chǎng)所對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
2.1 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片（包括箔和基體）
已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片。簡(jiǎn)稱標(biāo)準(zhǔn)片。
a) 校準(zhǔn)箔
對(duì)于磁性方法，“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。對(duì)于渦流方法，通常采用塑料箔。“箔”有利于曲面上的校準(zhǔn)，而且比用有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片更合適。
b) 有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片
采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結(jié)合的覆蓋層作為標(biāo)準(zhǔn)片。對(duì)于磁性方法，覆蓋層是非磁性的。對(duì)于渦流方法，覆蓋層是非導(dǎo)電的。
2.2 基體
a) 對(duì)于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與待測(cè)試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對(duì)于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與待測(cè)試件基體金屬的電性質(zhì)相似。為了證實(shí)標(biāo)準(zhǔn)片的適用性，可用標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬與待測(cè)試件基體金屬上所測(cè)得的讀數(shù)進(jìn)行比較。
b) 如果待測(cè)試件的金屬基體厚度沒有超過表一中所規(guī)定的臨界厚度，可采用下面兩種方法進(jìn)行校準(zhǔn)：
1) 在與待測(cè)試件的金屬基體厚度相同的金屬標(biāo)準(zhǔn)片上校準(zhǔn)；
2) 用一足夠厚度的，電學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯墊金屬標(biāo)準(zhǔn)片或試件，但必須使基
體金屬與襯墊金屬之間無間隙。對(duì)兩面有覆蓋層的試件，不能采用襯墊法。
c) 如果待測(cè)覆蓋層的曲率已達(dá)到不能在平面上校準(zhǔn)，則有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片的曲率或置于校準(zhǔn)箔下的基體金屬的曲率，應(yīng)與試樣的曲率相同。
2.3 校準(zhǔn)方法
本儀器有三種測(cè)量中使用校準(zhǔn)方法: 零點(diǎn)校準(zhǔn)、二點(diǎn)校準(zhǔn)、在噴沙表面上校準(zhǔn)。二點(diǎn)校準(zhǔn)法又分一試片法和二試片法。還有一種針對(duì)測(cè)頭的基本校準(zhǔn)。本儀器的校準(zhǔn)方法是非常簡(jiǎn)單的。
2.3.1零點(diǎn)校準(zhǔn)
適用于除 CN02 外的所有的測(cè)頭。
a) 在基體上進(jìn)行一次測(cè)量，屏幕顯示＜×.×μm＞。
b) 按ZERO 鍵，屏顯<0.0>。校準(zhǔn)已完成，可以開始測(cè)量了。
c) 重復(fù)上述a、b 步驟可獲得更為精確的零點(diǎn)，高測(cè)量精度。零點(diǎn)校準(zhǔn)完成后就可進(jìn)行測(cè)量了。
2.3.2二點(diǎn)校準(zhǔn)
2.3.2.1 一試片法
適用于除CN02 外的所有測(cè)頭。這一校準(zhǔn)法適用于高精度測(cè)量及小工件、淬火鋼、合金鋼。
a) 先校零點(diǎn)（如上述）。
b) 在厚度大致等于預(yù)計(jì)的待測(cè)覆蓋層厚度的標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行一次測(cè)量，屏幕顯示＜×××μm＞。
c) 用↑、↓鍵修正讀數(shù)，使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值。校準(zhǔn)已完成，可以開始測(cè)量了。
注意: 1. 即使顯示結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)片值相符，按↑、↓鍵也是的，例如按一次↑一次↓。這一點(diǎn)適用于所有校準(zhǔn)方法。
2. 如欲較準(zhǔn)確地進(jìn)行二點(diǎn)校準(zhǔn)，可重復(fù)b、c 過程，以提高校準(zhǔn)的精度，減少偶然誤差。
3. 用F5 和 F10 測(cè)頭，測(cè)量金屬鍍層時(shí)，應(yīng)使用兩點(diǎn)校準(zhǔn)法校準(zhǔn)。
2.3.2.2 二試片法
適用于除CN02 外的所有測(cè)頭。兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)片厚度至少相差三倍。待測(cè)覆蓋層厚度
應(yīng)該在兩個(gè)校準(zhǔn)值之間。這種方法尤其適用于粗糙的噴沙表面和高精度測(cè)量。
a) 先校零值。
b) 在較薄的標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行一次測(cè)量，用↑、↓鍵修正讀數(shù)，使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值。
c) 緊接著在厚的一個(gè)樣片上進(jìn)行一次測(cè)量，用↑、↓鍵修正讀數(shù)，使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值。校準(zhǔn)已完成，可以開始測(cè)量了。
2.3.2.3 在噴沙表面上校準(zhǔn)
噴沙表面的特性導(dǎo)致了測(cè)量值大大偏離真值，其覆蓋層厚度大致可用下面的方法確定。
方法一：
a) 儀器要用3.3.1或3.3.2.1 的方法在曲率半徑和基材相同的平滑表面校準(zhǔn)好。
b) 在未涂覆的經(jīng)過同樣噴沙處理的表面測(cè)量10 次左右，得到平均值Mo。
c) 然后，在已涂覆的表面上測(cè)量10 次得到平均值Mm。
d) （Mm—Mo）±S 即是覆蓋層厚度。
其中 S（標(biāo)準(zhǔn)偏差）是SMm 和SMo 中較大的一個(gè)。
方法二：
a) 用直接方式下的單次測(cè)量法測(cè)量。
b) 先用兩試片法校準(zhǔn)儀器。
c) 在試樣上測(cè)量5～10 次。按STATS 鍵，統(tǒng)計(jì)值中的平均值即是覆層厚度。
2.3.2.4 銅上鍍鉻層的校準(zhǔn)方法
適用于 N1 測(cè)頭，并使用特殊的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片。（去掉N400、N1/90°）
⊙必須使用一試片法。
⊙使用標(biāo)有“銅上鍍鉻” (CHROME ON COPPER) 字樣的特殊標(biāo)準(zhǔn)片。
2.3.2.5 CN02 測(cè)頭的校準(zhǔn)方法
CN02 是一種平展的測(cè)頭，僅適用于測(cè)量平滑表面的銅板或銅箔的厚度。
a) 開機(jī)后，將CN02 測(cè)頭平穩(wěn)地放在隨機(jī)配帶的5.0mm銅塊上，按ZERO 鍵，
屏幕顯示“OO”；
b) 在標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行一次測(cè)量；
c) 用↑、↓鍵修正讀數(shù)，使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值。校準(zhǔn)已完成，可以開始測(cè)量。
d) 測(cè)量雙面覆銅板需用雙面敷銅標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)。
說明：在溫度變化*的情況下，如冬季或盛夏在室外操作時(shí)，應(yīng)在與待測(cè)箔厚
度接近的標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行校準(zhǔn)。校準(zhǔn)時(shí)的環(huán)境溫度應(yīng)與使用時(shí)的環(huán)境溫度一致。
注意: 1. 出現(xiàn)下列情況，必需重新校準(zhǔn)。
____校準(zhǔn)時(shí)，輸入了一個(gè)錯(cuò)誤值
____操作錯(cuò)誤
____更換了測(cè)頭
2. 在直接方式下，如果輸入了錯(cuò)誤的校準(zhǔn)值，應(yīng)緊接著做一次測(cè)量，隨后再做一
次校準(zhǔn)，即可獲取新值消除錯(cuò)誤值；
3. 每一組單元中，只能有一個(gè)校準(zhǔn)值。
4. 零點(diǎn)校準(zhǔn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)都可以重復(fù)多次，以獲得更為精確的校準(zhǔn)值，提高測(cè)量精度
但此過程中一旦有過一次測(cè)量，則校準(zhǔn)過程便告結(jié)束。
影響測(cè)量精度的因素
2.3.3修改組FX 中的校準(zhǔn)值
刪除組單元中的所有數(shù)據(jù)和校準(zhǔn)值之后才能重新校準(zhǔn)。否則將出現(xiàn)E20 錯(cuò)誤代碼和鳴
響報(bào)警。更換測(cè)頭后，必須用此方法。
2.4 基本校準(zhǔn)的修正
在下述情況下，改變基本校準(zhǔn)是有必要的:
____測(cè)頭頂端被磨損。
____新?lián)Q的測(cè)頭。
____特殊的用途。
在測(cè)量中，如果誤差明顯地超出給定范圍，則應(yīng)對(duì)測(cè)頭的特性重新進(jìn)行校準(zhǔn)稱為基本校準(zhǔn)。通過輸入 6 個(gè)校準(zhǔn)值(1 個(gè)零和5 個(gè)厚度值)，可重新校準(zhǔn)測(cè)頭。
a) 在儀器關(guān)閉的狀態(tài)下按住↑和↓鍵再按ON 鍵，直到一聲長(zhǎng)鳴，即進(jìn)入基本校準(zhǔn)狀態(tài)；
b) 先校零值?？蛇B續(xù)重復(fù)進(jìn)行多次，以獲得一個(gè)多次校準(zhǔn)的平均值，這樣做可以提高校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性；
c) 使用標(biāo)準(zhǔn)片，按厚度增加的順序，一個(gè)厚度上可做多次。每個(gè)厚度應(yīng)至少是上一個(gè)厚度的1.6 倍以上，理想的情況是2 倍。例如: 50、100、200、400、800μm。
*大值應(yīng)該接近但低于測(cè)頭的*大測(cè)量范圍；
注意: 每個(gè)厚度應(yīng)至少是上一個(gè)厚度的 1.6 倍以上，否則視為基本校準(zhǔn)失敗。
d) 在輸入 6 個(gè)校準(zhǔn)值以后，測(cè)量一下零點(diǎn)，儀器自動(dòng)關(guān)閉，新的校準(zhǔn)值已存入儀器。
當(dāng)再次開機(jī)時(shí)，儀器將按新的校準(zhǔn)值工作。
3 影響時(shí)代TT260數(shù)字式覆層測(cè)厚儀測(cè)量精度的因素:
3.1 影響因素的有關(guān)說明
a) 基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以
認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相
同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
b) 基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方
法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
c) 基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬
厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。
d) 邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是
不可靠的。
e) 曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，
在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。
f) 試件的變形
測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。
g) 表面粗糙度,基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。
g) 磁場(chǎng)
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。
h) 附著物質(zhì)
本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除
附著物質(zhì)，以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。
i) 測(cè)頭壓力
測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。
j) 測(cè)頭的取向測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。
3.3 使用儀器時(shí)應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定
a) 基體金屬特性
對(duì)于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的
磁性和表面粗糙度相似。
對(duì)于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
b) 基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3)中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)。
c) 邊緣效應(yīng)
不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。
d) 曲率
不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量。
e) 讀數(shù)次數(shù)
通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同，因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量，表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。
f) 表面清潔度
測(cè)量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。
4 保養(yǎng)與維修
4.1 環(huán)境要求
嚴(yán)格避免碰撞、重塵、潮濕、強(qiáng)磁場(chǎng)、油污等。
4.2 電池充電
當(dāng)電池電壓過低時(shí)，即屏幕上出現(xiàn)“BATT”提示標(biāo)志時(shí)，應(yīng)盡快給儀器充電。充電方法如下：
a. 關(guān)機(jī)；
b. 將電源適配器的充電插頭插入儀器充電插座中， 然后將電源適配器接到
220V/50Hz 市電上，充電指示燈（綠）和快充指示燈（紅）均點(diǎn)亮；
c. 當(dāng)快充指示燈（紅）熄滅時(shí)，表明電池已被充滿。正常情況大約充電2.5 小時(shí)即可充滿。
d. 拔下充電插頭。
提示：1. 電源適配器的輸入電壓為220 伏交流，輸出為12 伏直流，*大充電流約300mA，*長(zhǎng)充電時(shí)間約3 小時(shí)。
2．本儀器使用了鎳氫蓄電池，因此，當(dāng)出現(xiàn)“BATT”時(shí),應(yīng)及時(shí)充電，過放
電對(duì)電池會(huì)有所損傷。
3．本儀器可以一邊充電一邊工作。
4.3 更換電池
本儀器使用的電池，一般工作壽命 3 年。電池失效后，用戶可自行更換，方法如下：
a) 將電源開關(guān)按出；
b) 旋下主機(jī)背后的四只螺釘，分開上、下蓋；
c) 拆下電池壓板，摘下電源插頭，取出失效電池；
d) 將新電池按原樣連線并裝上電源插頭（注意正、負(fù)極不要接反）；
e) 新電池就位，裝上電池壓板，將電源插頭插入電源插座，打開電源開關(guān)檢查
儀器工作是否正常；
f) 合好上、下蓋后旋緊四只螺釘。
4.4 更換打印紙
更換打印紙時(shí)，在“手推處”向前下方推動(dòng)打印紙倉蓋，取下倉蓋。裝上打印紙卷后，將紙卷端部插入打印頭進(jìn)紙口，按動(dòng)FEED 鍵，直至紙卷端部穿出打印頭并突出外殼，再裝上打印倉蓋。
手推處,更換打印紙旋下螺釘
4.5 更換色帶
先拆下打印頭，旋下螺釘，打開打印頭上蓋，更換色帶后，應(yīng)按色帶上的箭頭指示方向旋動(dòng)旋鈕拉緊色帶。
4.6 裝、卸打印頭
不用打印頭時(shí)，將其卸下，注意用力要均勻，方向要正確，以免損壞殼體。為使用方便，卸下打印頭后，還可將支架插板和支架裝上。為保證打印頭連接插口工作可靠，卸下打印頭后，應(yīng)裝上插口塞堵。
重新使用打印頭時(shí)，按相反順序操作。
向前推動(dòng)
圖 5-3 裝、卸下打印頭
4.7 故障排除
下面的錯(cuò)誤信息表告訴您如何去識(shí)別和排除故障：
表5-1 錯(cuò)誤信息表
錯(cuò)誤代號(hào) 錯(cuò)誤代號(hào)的含意 原因及解決辦法
E02 測(cè)頭或儀器損壞修理測(cè)頭或儀器
E03 測(cè)頭或儀器損壞修理測(cè)頭或儀器
E04 測(cè)量值發(fā)生大的波動(dòng)(例如在軟覆蓋層上測(cè)量時(shí))；磁場(chǎng)影響在軟質(zhì)覆蓋層上測(cè)量時(shí)，應(yīng)采用輔助裝置進(jìn)行測(cè)量；遠(yuǎn)離強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境E05 開機(jī)時(shí)測(cè)頭離金屬基體太近測(cè)頭遠(yuǎn)離金屬基體E08 測(cè)頭或儀器損壞修理測(cè)頭或儀器E11 測(cè)頭型號(hào)與本組原有數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的測(cè)頭型號(hào)不符更換合適的測(cè)頭另選一個(gè)未使用的組單元?jiǎng)h除后重新校準(zhǔn),E15,零值偏差太大，不能校零選擇合適的基體或修理儀器,E20,這個(gè)組單元中已有校準(zhǔn)值另選一個(gè)未使用的分組單元或刪除后重新校準(zhǔn),如果未顯示錯(cuò)誤代碼而工作不正常，例如：
a) 儀器不能自動(dòng)關(guān)機(jī)；
b) 不能測(cè)量；
c) 鍵不工作；
d) 測(cè)量值反復(fù)無常。
出現(xiàn)這類故障時(shí)， 當(dāng)用戶通過上述方法仍不能排除故障時(shí)，請(qǐng)用戶不要拆機(jī)自修。填妥保修卡后，請(qǐng)將儀器交我公司維修部門，執(zhí)行保修條例。
因本文檔里的部分內(nèi)容不能顯示，下載更詳細(xì)的使用說明書,請(qǐng)點(diǎn)擊下方的“附件”中的文章標(biāo)題打開后并保存，可直接進(jìn)行下載。 附件:TT260防腐層涂層測(cè)厚?/a>
會(huì)員1.png)