F6斷路器中必須充以額定壓力的SF6氣體。對SF6氣體除符合有關標準的質量規(guī)定外，還要嚴格控制SF6氣體中的微量水分含量。為什么要控制SF6氣體中的水分呢？因為水分對斷路器的性能有較大影響；當SF6氣體含水較多時，受潮的固體分解呈半導體特性，是絕緣子表面絕緣電阻下降，影響氣體的絕緣特性；當斷路器開斷短路電流時，就會因絕緣能力不足在恢復電壓峰值附近被擊穿，致使開斷失?。煌瑫r開斷時電弧的高溫是水分分解，與SF6氣體的分解物化合行程HF、H2SO4以及不同的低分子氟化物，這些物質除對斷路器的零件有腐蝕作用外還含有毒性。所以有關標準中規(guī)定了SF6氣體中微量水分含量的標準：（見表1，表中ppm為體積比）

表1

SF6氣體中微量水分測量方法常用的有電解法和露點法。

一、電解法（以HTCMS10型和HTCMS20型兩種水分測量儀為例）。

1）儀器應保存在恒溫（20℃）和恒濕（相對濕度70%~80%）的室內（或箱中）。

2）使用前儀器應降低本底值，方法時用高純氮或新SF6氣體以20~40/min的流速吹掃電解池，干燥至≤10ppm~20ppm后才能進行測量。

3）試品應充額定氣壓的SF6新氣存放24h后才能進行測量。測量時應盡量處在標準狀態(tài)下，即通風良好，無熱源直接輻射，空氣中的相對濕度不大于85%。所使用的附件（氣路連接管及減壓閥等）應清潔、干燥。

4）操作方法應嚴格按照儀器的使用說明書。當測量的數值穩(wěn)定后，用此穩(wěn)定的讀數乘量程擋減去儀器本底值就得到被測量氣樣的含水量ppm值。

5）當環(huán)境溫度和壓力（包括高原地區(qū)）偏離儀器設計溫度和標準氣壓時，推薦以下公式進行計算

Q = P0 T1 / P1 T0 × Q’ (7-6)

式中 Q—校正后氣體的流量，ml/min;

P0—標準狀態(tài)壓力，Pa；

T1—環(huán)境狀態(tài)溫度，K；

T0—標準狀態(tài)溫度，273.15K

P1—環(huán)境壓力，Pa；

Q’—微水儀規(guī)定的標準工作量，ml/min。

二、露點法。露點法的全稱為冷凝露點法，此類試驗中儀器種類較多，應嚴格按照該儀器的說明書使用。下面介紹一些注意事項。

1）測量系統(tǒng)、管路及接頭等應無泄漏。冷凝露點測量室和采樣系統(tǒng)的溫度應高于待測氣體的露點溫度至少2℃。測量時的環(huán)境溫度為5~35℃（盡可能在10~30℃下測量），相對濕度不大于85%。

2）測量時應目視測量儀器，注意降溫速率。采用制冷劑時，制冷的速率應相對穩(wěn)定，以免產生過冷現象，尤其在接近測試露點時，冷卻速度應盡量放慢。測量時露點測量室的出氣端通大氣放空，露點測量室內壓力等于大氣壓。

3）鏡面污染的處理。當固體顆粒、污著物、油污等進入儀器，鏡面被污染時會引起測量的露點偏離。除大氣外的其他蒸汽也能在鏡面上冷凝，使所觀察到的露點不同于相應的水蒸汽含量的露點，在低露點測量時，有時會因鏡面上附著雜質而使測量值偏高，因此可以用滌綢沾污水乙醇或四氯化碳輕輕擦洗鏡面，再用干凈滌綢擦凈。如果儀器有特殊規(guī)定，則按照規(guī)定進行清理。

4）測量時應重復3次，直到連續(xù)3次測試的露點差不大于±1.5℃為止。