純絕緣子跨線接地時，就像電容器一樣。在理想的絕緣體中，作為絕緣體的絕緣材料也為100％純，流經(jīng)絕緣體的電流僅具有電容性成分。沒有電流的電阻分量，就像理想的絕緣材料一樣，通過絕緣子從線路流到大地，雜質(zhì)為零。 在純電容器中，容性電流使施加的電壓90。

實際上，絕緣子不能制成100％純的。同樣由于絕緣子的老化，諸如灰塵和濕氣之類的雜質(zhì)也進(jìn)入其中。這些雜質(zhì)為電流提供了導(dǎo)電路徑。因此，通過絕緣子從線路流向大地的漏電流具有電阻成分。

因此，不用說，對于良好的絕緣體，漏電流的電阻分量非常低。以另一種方式，電絕緣體的健康狀況可以通過電阻性組件與電容性組件的比率來確定。對于良好的絕緣體，該比率將非常低。該比率通常稱為tanδ或tanδ。有時也稱為耗散因數(shù)。

在上面的矢量圖中，系統(tǒng)電壓沿x軸繪制。導(dǎo)電電流，即泄漏電流的電阻分量I R也將沿著x軸。

由于泄漏電流I C的電容分量使系統(tǒng)電壓超前90，因此它將沿y軸繪制。

現(xiàn)在，總泄漏電流I L（I c + I R）與y軸成角度δ（例如）。

現(xiàn)在，從上面的圖中，它被清零，比率，我ř到I ç不過的tanδ或損耗角正切。

注意：此δ角稱為損耗角。

介質(zhì)損耗測試儀（又稱全自動抗干擾異頻介損測試儀）測試方法

首先將要進(jìn)行tanδ測試或耗散因數(shù)測試的電纜，繞組，電流互感器，電壓互感器，變壓器套管與系統(tǒng)隔離。在要測試其絕緣的設(shè)備上施加非常低的頻率測試電壓。首先，施加正常電壓。如果tanδ值看起來足夠好，則施加的電壓將升高到設(shè)備正常電壓的1.5到2倍。的損耗角正切控制器單元需要測量tanδ值的。損耗角分析儀與tanδ測量單元連接，以比較正常電壓和更高電壓下的tanδ值并分析結(jié)果。

在測試過程中，必須以非常低的頻率施加測試電壓。

應(yīng)用極低頻率的原因

如果施加電壓的頻率高，則絕緣體的電容電抗變低，因此電流的電容成分高。電阻元件幾乎固定；這取決于絕緣體的施加電壓和電導(dǎo)率。隨著電容電流在高頻下變大，電流的電容分量和電阻分量的矢量和的幅度也變大。

因此，正切測試所需的視在功率將變得足夠高，這是不實際的。因此，為了保持此耗散因數(shù)測試的功率要求，需要非常低的頻率測試電壓。tanδ測試的頻率范圍通常為0.1到0.01 Hz，具體取決于絕緣材料的大小和性質(zhì)。

還有另一個原因，必須使測試的輸入頻率盡可能低。

據(jù)我們所知，

這就是說，損耗因子tanδ∝ 1 / f。

因此，在低頻下，tanδ值較高，并且測量變得更容易。

如何預(yù)測介質(zhì)損耗測試儀測試的結(jié)果

在損耗角正切或耗散因數(shù)測試期間，有兩種方法可以預(yù)測絕緣系統(tǒng)的狀況。

首先，一個是，通過比較先前測試的結(jié)果來確定由于老化效應(yīng)而導(dǎo)致的絕緣狀況的惡化。第二個是直接從tanδ值確定絕緣條件。無需比較tanδ測試的先前結(jié)果。如果絕緣是的，那么在所有測試電壓范圍內(nèi)損耗因子都將大致相同。但是，如果絕緣不充分，則tanδ的值會在較高的測試電壓范圍內(nèi)增加。

從圖中可以明顯看出，tan和δ值隨測試極低頻電壓的增加而非線性增加。tanδ的增加意味著絕緣中的高電阻電流分量?？梢詫⑦@些結(jié)果與先前測試的絕緣子的結(jié)果進(jìn)行比較，以做出是否更換設(shè)備的正確決定。