在常規(guī)測(cè)試中，通常與兆歐表一樣使用直流（DC）電壓。但是，使用絕緣電阻儀（又稱(chēng)絕緣電阻測(cè)試儀）進(jìn)行連續(xù)監(jiān)視通常會(huì)使用某種形式的交流（AC）波形。這是因?yàn)橹绷鳒y(cè)量容易受到噪聲或雜散電流的干擾。本文討論的測(cè)試主要涉及直流電壓測(cè)試。

當(dāng)電壓E（伏特，V）施加在金屬導(dǎo)體和大地之間，電流流過(guò)電纜絕緣層。這稱(chēng)為泄漏電流。但是，IR測(cè)試儀測(cè)得的電流是包括電容和吸收電流在內(nèi)的總電流。電容性電流與電容器的充電有關(guān)。電容器由被導(dǎo)電材料（絕緣體）隔開(kāi)的兩種導(dǎo)電介質(zhì)組成，例如浸在海水中的絕緣銅電纜。在由絕緣體隔開(kāi)的兩個(gè)導(dǎo)體之間施加直流電壓時(shí)，會(huì)在面對(duì)的導(dǎo)體表面上形成相等且相反的電荷。另一方面，電介質(zhì)產(chǎn)生電場(chǎng)，電介質(zhì)中的分子偶極與該電場(chǎng)對(duì)準(zhǔn)。電荷載流子往返導(dǎo)體表面的這種運(yùn)動(dòng)會(huì)產(chǎn)生電容性泄漏電流。由于電場(chǎng)的存在，吸收電流源于絕緣子內(nèi)偶極子的運(yùn)動(dòng)。

那么，電容性電流和吸收性電流如何影響IR測(cè)試？在直流電壓IR測(cè)試開(kāi)始時(shí)，會(huì)出現(xiàn)電容，吸收和泄漏電流。電容電流在開(kāi)始時(shí)占主導(dǎo)地位，通常比泄漏電流和吸收電流大得多。隨著時(shí)間的流逝，電容和吸收電流將消散，這取決于材料存儲(chǔ)電荷的能力（絕緣子的效率更高）。與吸收電流（與絕緣體相關(guān)）相比，電容電流（與導(dǎo)體相關(guān)）耗散迅速。因此，電流的減小導(dǎo)致在IR測(cè)試期間IR的持續(xù)增加。但是，大多數(shù)絕緣測(cè)試方法都將這些影響考慮在內(nèi)。