杭州嘉維創(chuàng)新科技有限公司
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產(chǎn)品型號(hào)Zetasizer Nano ZS
品 牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷(xiāo)商
所 在 地
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更新時(shí)間:2026-03-30 14:39:43瀏覽次數(shù):455次
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經(jīng)營(yíng)模式:經(jīng)銷(xiāo)商
商鋪產(chǎn)品:454條
所在地區(qū):浙江杭州市
聯(lián)系人:徐先生 (銷(xiāo)售)
納米粒度、Zeta電位和分子量分析儀
Zetasizer Nano ZS納米粒度、Zeta電位和分子量分析儀的簡(jiǎn)單介紹 新一代Zetasizer Nano 系列可以為膠體和聚合物化學(xué)專(zhuān)家提供綜合測(cè)量三項(xiàng)重要參數(shù)的能力,即粒度、zeta 電位和分子量。 這些系統(tǒng)中內(nèi)置了新技術(shù),提供無(wú)比的靈敏性和多功能性。 粒度 - NIBS 技術(shù)可以對(duì)粒徑范圍0.3 納米至 10 微米的顆粒和分子進(jìn)行測(cè)量。 Zeta 電位 - M3-PALS 技術(shù)能夠?qū)λ稚⒑头撬稚Ⅲw系中的 zeta 電位進(jìn)行精確的測(cè)量。 分子量 - 雪崩光電二極管檢測(cè)器和光纖檢測(cè)光學(xué)裝置提供測(cè)量分子量所需的靈敏度和穩(wěn)定性。 Zetasizer Nano 系列中,可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用選擇Nano ZS, Nano ZS90, Nano S, Nano Z,Nano S90等不同型號(hào) Zetasizer Nano ZS 是 Malvern Zetasizer Nano 系列中的,能夠測(cè)量所有三項(xiàng)參數(shù),而且性能絲毫不減。 Nano ZS、Z 及 ZS90 都可以使用*的一次性 zeta 電位樣品池,避免樣品之間的交叉污染。 所有系統(tǒng)均可與 MPT-2 自動(dòng)滴定儀連接使用,實(shí)現(xiàn)趨勢(shì)測(cè)量和樣品制備的自動(dòng)化。 Zetasizer Nano ZS納米粒度、Zeta電位和分子量分析儀的技術(shù)參數(shù) 粒徑測(cè)量 Zeta電位測(cè)量 分子量測(cè)量 * 取決于樣品 Zetasizer Nano ZS納米粒度、Zeta電位和分子量分析儀的主要特點(diǎn) 新一代Zetasizer Nano系列納米粒度和Zeta電位及分子量分析儀 Zetasizer Nano系列納米粒度及zeta電位分析儀: Zeta 粒度范圍* 分子量范圍* Zetasizer Nano ZS M3-PALS NIBS 1000 - 2x107 Da Zetasizer Nano S - NIBS 1000 - 2x107 Da Zetasizer Nano Z M3-PALS - - Zetasizer Nano ZS90 M3-PALS 1 納米 - 3微米 10,000 - 2x107 Da Zetasizer Nano S90 - 1 納米 - 3微米 10,000 - 2x107 Da
大粒徑范圍: 0.3 nm - 10 μm *
濃度范圍: 0.1ppm – 40% w/v *
檢測(cè)角度: 175º 和 12.8º
小樣品量: 12 μl
Zeta電位范圍: 無(wú)實(shí)際限制
電泳遷移率: 0 – 無(wú)實(shí)際上限
大樣品電導(dǎo)率: 200mS/cm
大樣品濃度: 40% w/v
小樣品量: 150 μl
粒徑范圍: 3.8nm - 100 μm *
分子量范圍 342 - 2 ×107 Da * (動(dòng)態(tài)光散射)
980 - 2 ×107 Da * (靜態(tài)光散射)
小樣品量 12 μl
持續(xù)革新與優(yōu)化樹(shù)立納米分析新*
融合多項(xiàng)技術(shù) 挑戰(zhàn)顆粒表征極限
粒度范圍極寬:0.3-- 10 μm
濃度范圍廣: 0.1ppm—40%(w/v)
測(cè)量分子量
高分辨率高靈敏度Zeta電位測(cè)量
zeta電位樣品池具有所需樣品量低至150 μl 和檢測(cè)高濃度樣品至40%(依賴(lài)于樣品)的極限能力
多項(xiàng)技術(shù)
馬爾文NIBS非侵入背側(cè)光散射技術(shù)使儀器具有靈敏性
馬爾文的新一代PALS M3技術(shù),將的硬件與軟件技術(shù)相結(jié)合,有效檢測(cè)散射光的相位變化
馬爾文的毛細(xì)管樣品池電極組件,真正避免交叉污染
*多功能系統(tǒng)
*的APD檢測(cè)器,靈敏度無(wú)出其右
特制高性能He-Ne激光器,提供更高的穩(wěn)定性
標(biāo)準(zhǔn)配置研究級(jí)高速數(shù)字相關(guān)器
175度和12.8度相結(jié)合的雙角度測(cè)量模式,洞悉體系中的締合物含量
電位測(cè)量*
5納米 - 10微米
0.6納米 - 6微米
0.6納米 - 6微米
5納米 - 10微米
5納米 - 10微米
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