降落數(shù)值測定儀的原理及其重要性
損傷淀粉是指在小麥加工過程中，由于機(jī)械力的作用，使小麥胚乳完整的淀粉受到外形上的破壞，損傷后的淀粉粒，其物理 和化學(xué)性質(zhì)都發(fā)生了變化。的活性檢測在面粉的研磨過程中是bi檢的項(xiàng)目，通過監(jiān)測來進(jìn)行了解面粉在制作的過程中受損的程度，損傷淀粉的吸水率比未損傷淀粉的吸水率增加2.5倍，同時(shí)，損傷淀粉易被α-所分解，生成糊精和麥芽糖。利用損傷淀粉易被分解的特點(diǎn)可以測定面粉中損傷淀粉的含量。那么的活性是如何進(jìn)行檢測的呢？
常用的測定方法是酶法和非酶法。這兩種檢測方法中使用比較多的是酶法，但是在檢測的過程中有點(diǎn)麻煩，現(xiàn)今使用較為多的是通過使用降落數(shù)值測定儀來進(jìn)行測量其酶的活性，降落數(shù)值測定儀的原理是測定α-對淀粉糊的降解作用。小麥粉在沸水中能迅速糊化，并因其中α-活性不同而使糊化物中的淀粉不同程度的被液化，攪拌器在糊化物中下降速度不同。因此，隨α-的增加，多的淀粉被降解，淀粉糊黏度降低，攪拌器下降的速度就越快。數(shù)值就越小。而是用降落數(shù)值測定所測量的降落數(shù)值其實(shí)是以攪拌棒在糊化液自由下降一段特定高度所需的秒數(shù)來表示的。
一般來說，降落數(shù)值是250s的面粉，其的活性適中，可以烘焙出質(zhì)量的面包，小于200s的面粉，活性太高，做出的面包芯黏濕、內(nèi)部結(jié)構(gòu)差、大孔洞。高于400s的面粉活性太小，芯發(fā)干，體積小。一般面包的降落數(shù)值為250s～300s。因而在生產(chǎn)的過程中可以通過降落值測定儀來進(jìn)行衡量是否達(dá)標(biāo)。
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