詳細(xì)摘要: 小型高溫反偏試驗系統(tǒng)HTRBAS-HTRB-C8小型高溫反偏測試系統(tǒng)用于研發(fā)部分評估封裝工藝的穩(wěn)定性,加速缺陷失效率,剔除有隱患的器件或剔除有制造缺陷的器件(剔...
產(chǎn)品型號:所在地:蘇州市更新時間:2025-08-04 在線留言蘇州安而森試驗設(shè)備有限公司
詳細(xì)摘要: 小型高溫反偏試驗系統(tǒng)HTRBAS-HTRB-C8小型高溫反偏測試系統(tǒng)用于研發(fā)部分評估封裝工藝的穩(wěn)定性,加速缺陷失效率,剔除有隱患的器件或剔除有制造缺陷的器件(剔...
產(chǎn)品型號:所在地:蘇州市更新時間:2025-08-04 在線留言詳細(xì)摘要: 高溫柵偏試驗系統(tǒng)HTGB高溫柵偏試驗系統(tǒng)滿足各種封裝形式IGBT模塊高溫柵偏試驗HTGB和高溫漏電流測試HTIR。用于評估功率模塊工藝的穩(wěn)定性,加速缺陷失效率,...
產(chǎn)品型號:所在地:蘇州市更新時間:2025-08-04 在線留言詳細(xì)摘要: 高溫反偏試驗系統(tǒng)HTRB適用于IGBT/DIODE/MOSFET/HEMT/BJT/SCR 等器件的高溫反偏試驗;產(chǎn)品應(yīng)用覆蓋DIP、SOP、SOT、SOD、T...
產(chǎn)品型號:所在地:蘇州市更新時間:2025-08-04 在線留言詳細(xì)摘要: 高溫高濕反偏試驗系統(tǒng)H3TRB高溫高濕反偏試驗系統(tǒng)(H3TRB)用于功率半導(dǎo)體器件的環(huán)境老化試驗,比如 Si/SiC/GaN 材料的IGBT/DIODE/MOS...
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