液體介電常數(shù)測定儀
2、低頻介電常數(shù)測試儀
3、高頻介電常數(shù)測試儀
4、塑料介電常數(shù)測試儀
5、聚乙烯介電常數(shù)測定儀
6、硅橡膠介電常數(shù)測定儀
7、橡膠介電常數(shù)測定儀
8、材料介電常數(shù)測定儀
9、薄膜介電常數(shù)測定儀
10、聚酯薄膜介電常數(shù)測試儀
11、聚合物介電常數(shù)測量儀
12、介電常數(shù)及介質損耗測試儀
介電常數(shù)和介質損耗測試儀怎么選
一、產(chǎn)品簡介
LJD-C型介電常數(shù)及介質損耗測試儀作為新一代通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到160MHz，可選配自動測試軟件模塊，實現(xiàn)自動介電常數(shù)測量。
LJD-C介電常數(shù)測試儀采用了多項*技術：
- 雙掃描技術——測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。
- 雙測試要素輸入——測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
- 雙數(shù)碼化調(diào)諧——數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。
- 自動化測量技術——對測試件實施Q值、諧振點頻率和電容的自動測量。
- 全參數(shù)液晶顯示——數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、Q 值、信號源頻率、諧振指針。
- DDS 數(shù)字直接合成的信號源——確保信源的高保真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。
- 計算機自動修正技術和測試回路優(yōu)化使測試回路殘余電感減至低， Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。
二、介電常數(shù)和介質損耗測試儀怎么選適用標準
- LJD-C型介電常數(shù)及介質損耗測試儀適用于固體和液體絕緣材料介電常數(shù)及介質損耗因數(shù)的測試，測試能力符合以下標準（樣品尺寸應按標準要求制作）：
- GB/T 1409-2006 《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法》（等效IEC 60250：1969）
- GB/T 1693-2007 《硫化橡膠 介電常數(shù)和介質損耗角正切值的測定方法》
- ASTM D150 《Standard Test Methods for AC Loss Characteristics and Permittivity (Dielectric Constant) of Solid Electrical Insulation》
三、主要參數(shù)
*1.信號源: DDS數(shù)字合成信號 100kHz-160MHz
*2.信號源頻率精度3×10-5 ±1個字,6位有效數(shù)
3．Q值測量范圍：1～1023
4．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔；
*5．電感測量范圍：1nH～140mH 自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能
*6．電容直接測量范圍：1pF～25nF
7．主電容調(diào)節(jié)范圍： 17～240pF
8．準確度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%
9．信號源頻率覆蓋范圍100kHz～160MHz
10．合格指示預置功能范圍：5～1000
11．環(huán)境溫度：0℃～+40℃；
12．消耗功率：約25W；電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
13.（數(shù)顯）介電常數(shù)εr和介質損耗因數(shù)tanδ測試裝置：
數(shù)顯式微桿，平板電容器：
極片尺寸： Φ50mm/Φ38mm可選
極片間距可調(diào)范圍：≥15mm
夾具插頭間距：25mm±0.01mm
夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）
測微桿分辨率：0.001mm
測試極片：材料測量直徑Φ50mm/Φ38mm可選 厚度可調(diào) ≥ 15mm
*液體杯：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm
14. 電感組LKI-1：
分別由0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、15μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十個電感組成。
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