產品介紹：
平坦樣品中的延遲度和方位角（快速軸方向）的測量
在<15 s內測量直徑20mm的視場
包括三個用于直徑0.5英寸，直徑1英寸和2英寸x 2英寸光學元件的樣品架
LCC7201雙折射成像系統(tǒng)用于學術研究、醫(yī)療診斷、工業(yè)制造和產品質量保證，可以測量晶體和液晶設備等平整的平面樣品的相位延遲和方位角，非常適合檢測由應力引起的雙折射特性。由于該系統(tǒng)基于液晶器件，其內部沒有相對機械運動，從而在運行過程中非常穩(wěn)定，毫無振動干擾。LCC7201工作的波長為633 nm，提供直徑20 mm的視場。該系統(tǒng)所測相位延遲范圍為半波長（max.316 nm），方位角范圍為±90°。此外，還可以定制波長范圍從405 nm到810 nm的工作波長。
參數(shù)：
光源波長：633 nm
延遲測量范圍
標準延遲范圍：0至316 nm
低延遲范圍：0至100 nm
方位角測量范圍：±90°
延遲測量
精度標準延遲范圍：<±10 nm
低延遲范圍：<±1 nm
方位角測量精度
標準延遲范圍：<±3°
低延遲范圍：<±1°
測量速率：<15 s
視場：直徑20mm
空間分辨率：9.77μm
接口：USB 2.0和千兆以太網
相機分辨率：2048 x 2048像素
尺寸：500.0 mm（D）x 360.0 mm（W）x 672.0 mm（H）
重量：26 kg（57.3 lbs）
工作溫度：0至40°C
儲存溫度：-15至65°C
隨附的配件：筆記本電腦，樣品架，雙折射分辨率目標（Item R2L2S1B）