相關(guān)產(chǎn)品介紹：
OPTIGAUGE 2000儀器基于時(shí)域低相干干涉測(cè)量法。這項(xiàng)技術(shù)可以對(duì)任何對(duì)光測(cè)量透明或部分透明的材料進(jìn)行厚度測(cè)量。使用中心波長(zhǎng)約為2微米的紅外光。設(shè)計(jì)用于測(cè)量特殊和稀有材料。常規(guī)的玻璃和塑料材料也可以測(cè)量。我們的技術(shù)可實(shí)現(xiàn)快速的實(shí)時(shí)測(cè)量，可用于在線過(guò)程控制以及離線質(zhì)量控制。
主要特點(diǎn)：
-測(cè)量范圍：100ΜM-16MM
-精度±1.0ΜM
-單層和多層測(cè)量
-連續(xù)內(nèi)部校準(zhǔn)
-NIST可追溯性
-臺(tái)式或機(jī)架安裝

CLAS-2D波前傳感器將干涉儀，光束輪廓儀和光束質(zhì)量?jī)x的功能整合在一臺(tái)儀器中，以提供準(zhǔn)確的波前測(cè)量和激光輪廓分析。
該系統(tǒng)軟件是業(yè)內(nèi)靈活軟件，可以分析光學(xué)像差，包括像散，球差，聚焦誤差/準(zhǔn)直，傾斜等。此外，CLAS-2D還測(cè)量M2光束質(zhì)量，MTF，近場(chǎng)和遠(yuǎn)場(chǎng)光束發(fā)散度以及其他光束參數(shù)。
主要特點(diǎn)：
-激光束診斷
-光學(xué)測(cè)試
-對(duì)準(zhǔn)
-角度測(cè)量
-準(zhǔn)直
-表面測(cè)量

CRYSTALWAVE人工晶狀體精密像差儀是一種高度靈敏的光學(xué)儀器，專門設(shè)計(jì)用于使用10,000個(gè)小透鏡的柵格來(lái)測(cè)量人工晶狀體。它使您可以通過(guò)使用或不使用可選模型眼的WAVEFRONT測(cè)量來(lái)計(jì)算MTF。CRYSTALWAVE 765還包括可用于視覺(jué)檢查的攝像機(jī)。與我們的CLAS-2D服務(wù)器軟件兼容，您還可以使用LABVIEW，VISUAL BASIC或其他語(yǔ)言編寫CRYSTALWAVE 765的應(yīng)用程序，以直接控制生產(chǎn)線環(huán)境中的儀器。
主要特點(diǎn)：
-測(cè)量范圍包括球面度數(shù)，圓柱度，軸，彗差，三葉形和其他高階像差

-使用綠色光源進(jìn)行的測(cè)量符合ISO 11979