相關(guān)產(chǎn)品介紹：

OPTIGAUGE 2000儀器基于時域低相干干涉測量法。這項技術(shù)可以對任何對光測量透明或部分透明的材料進(jìn)行絕對厚度測量。使用中心波長約為2微米的紅外光。設(shè)計用于測量特殊和稀有材料。常規(guī)的玻璃和塑料材料也可以測量。我們的技術(shù)可實現(xiàn)快速的實時測量，可用于在線過程控制以及離線質(zhì)量控制。

主要特點：

-測量范圍：100ΜM-16MM

-精度±1.0ΜM

-單層和多層測量

-連續(xù)內(nèi)部校準(zhǔn)

-NIST可追溯性

-臺式或機(jī)架安裝

CLAS-2D波前傳感器將干涉儀，光束輪廓儀和光束質(zhì)量儀的功能整合在一臺儀器中，以提供準(zhǔn)確的波前測量和激光輪廓分析。

該系統(tǒng)軟件是業(yè)內(nèi)靈活軟件，可以分析光學(xué)像差，包括像散，球差，聚焦誤差/準(zhǔn)直，傾斜等。此外，CLAS-2D還測量M2光束質(zhì)量，MTF，近場和遠(yuǎn)場光束發(fā)散度以及其他光束參數(shù)。

主要特點：

-激光束診斷

-光學(xué)測試

-對準(zhǔn)

-角度測量

-準(zhǔn)直

-表面測量

CRYSTALWAVE人工晶狀體精密像差儀是一種高度靈敏的光學(xué)儀器，專門設(shè)計用于使用10,000個小透鏡的柵格來測量人工晶狀體。它使您可以通過使用或不使用可選模型眼的WAVEFRONT測量來計算MTF。CRYSTALWAVE 765還包括可用于視覺檢查的攝像機(jī)。與我們的CLAS-2D服務(wù)器軟件兼容，您還可以使用LABVIEW，VISUAL BASIC或其他語言編寫CRYSTALWAVE 765的應(yīng)用程序，以直接控制生產(chǎn)線環(huán)境中的儀器。

主要特點：

-測量范圍包括球面度數(shù)，圓柱度，軸，彗差，三葉形和其他高階像差

-通過軟件口罩測量多焦點人工晶狀體

-使用綠色光源進(jìn)行的測量符合ISO 11979