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美國MICROTRAC激光粒度儀
天津瑞利光電科技有限公司經(jīng)銷美國MICROTRAC激光粒度儀
產(chǎn)品詳情：
激光粒度儀S3500
優(yōu)點(diǎn)：
-三激光，紅光，多檢測(cè)器，多角度的光學(xué)系統(tǒng)
-利用三重補(bǔ)償算法及改良三重計(jì)算非球形顆粒
-0.02至2800微米的測(cè)量能力
-固定探測(cè)器和激光器
-封閉光路確保光學(xué)部件*保護(hù)，很少或沒有操作員干預(yù)
-利用三個(gè)紅色激光，提高了測(cè)量的范圍，讓您可以靈活地進(jìn)行分析，廣泛的樣本
-專有修改三重計(jì)算允許用戶準(zhǔn)確地測(cè)量復(fù)雜的顆粒等，準(zhǔn)確地表征
-從濕到干的測(cè)量無縫過渡，減少停機(jī)時(shí)間
-固定檢測(cè)器提供堅(jiān)固耐用，確保正確的定位
-小型平臺(tái)占位面積小，減少了寶貴的實(shí)驗(yàn)室空間
應(yīng)用：
-生物技術(shù)/制藥
-金屬/金屬粉末
-化學(xué)制品
-顏料
-食品/飲料
-水泥制造
-地質(zhì)研究
-涂料
-聚合物
-學(xué)術(shù)研究
公司介紹：
麥奇克MICROTRAC以其在激光衍射/散射技術(shù)和顆粒表征方面的獨(dú)到見解，經(jīng)過多年的市場(chǎng)調(diào)研和潛心研究，開發(fā)出新一代Zetatrac微電場(chǎng)分析技術(shù)，融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測(cè)量于一體，無需傳統(tǒng)的比色皿，一次進(jìn)樣即可得到準(zhǔn)確的粒度分布和Zeta電位分析數(shù)據(jù)。通過ISO質(zhì)量管理體系，監(jiān)控設(shè)計(jì)，制造，顧客滿意，持續(xù)改進(jìn)的指導(dǎo)下，MICROTRAC致力于將他們所使用的工具提高到適應(yīng)任何行業(yè)/公司。
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