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天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢經(jīng)銷美國Thorlabs顯微鏡成像系統(tǒng)-LCC7201
美國Thorlabs顯微鏡成像系統(tǒng)-LCC7201
產(chǎn)品介紹：
平坦樣品中的延遲度和方位角（快速軸方向）的測量
在<15 s內(nèi)測量直徑20mm的視場
包括三個(gè)用于直徑0.5英寸，直徑1英寸和2英寸x 2英寸光學(xué)元件的樣品架
LCC7201雙折射成像系統(tǒng)用于學(xué)術(shù)研究、醫(yī)療診斷、工業(yè)制造和產(chǎn)品質(zhì)量保證，可以測量晶體和液晶設(shè)備等平整的平面樣品的相位延遲和方位角，非常適合檢測由應(yīng)力引起的雙折射特性。由于該系統(tǒng)基于液晶器件，其內(nèi)部沒有相對(duì)機(jī)械運(yùn)動(dòng)，從而在運(yùn)行過程中非常穩(wěn)定，毫無振動(dòng)干擾。LCC7201工作的波長為633 nm，提供直徑20 mm的視場。該系統(tǒng)所測相位延遲范圍為半波長（max.316 nm），方位角范圍為±90°。此外，還可以定制波長范圍從405 nm到810 nm的工作波長。
參數(shù)：
光源波長：633 nm
延遲測量范圍
標(biāo)準(zhǔn)延遲范圍：0至316 nm
低延遲范圍：0至100 nm
方位角測量范圍：±90°
延遲測量
精度標(biāo)準(zhǔn)延遲范圍：<±10 nm
低延遲范圍：<±1 nm
方位角測量精度
標(biāo)準(zhǔn)延遲范圍：<±3°
低延遲范圍：<±1°
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