詳細摘要: 薄膜厚度測定儀利用薄膜干涉光學原理,對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面,探頭同位接收反射光線。Delta根據(jù)反射回來的干...
產(chǎn)品型號:Delta所在地:廣州市更新時間:2026-04-17 在線留言
廣州貝拓科學技術有限公司
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