詳細(xì)摘要： 精密離子減薄儀用于高質(zhì)量TEM樣品的制備，它可精確定位減薄位置并對工藝參數(shù)進(jìn)行精確控制
產(chǎn)品型號：所在地：廣州市更新時間：2023-08-28 在線留言廣州思博科技設(shè)備有限公司
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詳細(xì)摘要： 精密離子減薄儀用于高質(zhì)量TEM樣品的制備，它可精確定位減薄位置并對工藝參數(shù)進(jìn)行精確控制
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詳細(xì)摘要： 采用低加速電壓切割、拋光、研磨來制備無損的SEM截面樣品
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詳細(xì)摘要： 利用寬幅氬離子束對樣品進(jìn)行切割、拋光、研磨和鍍膜處理，從而得到高質(zhì)量SEM成像和分析結(jié)果
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