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| 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 | 加工定制 | 否 |
|---|---|---|---|
| 質(zhì)保 | 1年 |
【探針接觸式輪廓儀】臺階儀,全新美國進(jìn)口臺階儀 性價比高
NanoMap-PS是一款專門為nm級薄膜測量研發(fā)的無需防震臺即可測量的接觸式臺階儀
AFM同款位移傳感器，超高精度
壓電陶瓷驅(qū)動掃描，無內(nèi)源振動
自集成主動反饋式防震系統(tǒng)
真正無需額外輔助防震系統(tǒng)，實現(xiàn)高重復(fù)性納米測量
納米量級科學(xué)研究的*產(chǎn)品
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
維修瑞士TESA測高儀
TESA Hite 400/700測高儀是集TESA25年研發(fā)經(jīng)驗推出的性價比的一款，它必定成為車間的。TESA Hite400/700適合于如內(nèi)外長度直徑, 階梯尺寸, 高度, 深度, 和距離的測量. 配合其他附件(如測量表頭),還可進(jìn)行直線度和垂直度的測量.TESA Hite400/700和被替代TESA Hite PlusD350/600 相比具有更大的測量范圍，更高的精度，電子裝置具有IP65的防護(hù)等級可以防止液體和灰塵的侵入，機(jī)器本身內(nèi)置氣浮，使得機(jī)器移動更加方便快捷，避免測量基準(zhǔn)的磨損，延長測高儀的使用壽命?？刂泼姘骞潭ㄔ跈C(jī)身上。表面鍍鎳的鑄鐵底座同時鑄有三個支承,保證了儀器的高度穩(wěn)定性. 外罩內(nèi)的立柱配有導(dǎo)軌系統(tǒng)并和底座垂直. 測頭在此導(dǎo)軌上移動并由TESA技術(shù)的位移傳感器記錄其位置. · 技術(shù)指標(biāo)
維修瑞士TESA測高儀
型號規(guī)格 |
| TESA Hite |
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400 | 700 |
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測量范圍 | mm | 415 | 715 |
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應(yīng)用范圍配標(biāo)準(zhǔn)附件 配訂貨號的測頭座 配訂貨號S的測頭座 | mm | 570 625 795 | 870 925 1095 |
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允許誤差 | (2.5+4L)μm,(L單位為米/L in m) |
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重復(fù)性(帶標(biāo)準(zhǔn)附件) | ±2s≤2μm |
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運動速度 | 500 mm/s |
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測量力(聲音信號) | 1.5±0.5N |
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電源 | 6V 可充電電池 |
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一次充電工作時間 | 60h |
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微調(diào)裝置 | √ | ||||
測頭鎖定 | √ | ||||
機(jī)械垂直度(μm) | <10 | <15 | |||
主機(jī)重量(kg) | 27 | 32 | |||
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2) 主要測量功能
描述 |
在同一個方向上進(jìn)行長度測量(測量模式1), 無須考慮測頭直徑 |
在上下方向上進(jìn)行長度測量(測量模式2), 要考慮測頭直徑 |
<連續(xù)性>顯示測量(測量模式3) |
在測量模式2狀態(tài)下顯示出上兩次觸測值的差值 |
在測量模式1和模式2狀態(tài)下顯示出上兩次顯示值的差值 |
在測量模式2狀態(tài)下, 通過兩次觸測來建立基準(zhǔn)點,以獲得各種長度和位置坐標(biāo) |
在測量模式2狀態(tài)下, 通過一次觸測來建立基準(zhǔn)點,以獲得各種長度測量 |
在測量模式1, 2和3狀態(tài)下建立新的基準(zhǔn)點 |
在測量模式1, 2和3狀態(tài)下, 予置數(shù)輸入 |
自動將測量數(shù)據(jù)傳輸給外設(shè) |
確認(rèn)并記錄數(shù)據(jù)在儀器存儲器中 |
增位測量, 表示找到點(測內(nèi)外直徑時使用) |
減位測量, 表示找到點(測內(nèi)外直徑時使用) |
每按一下,即將讀數(shù)傳給外設(shè) |
公英制單位轉(zhuǎn)換 |
取消上一次功能或測量選擇 |
儀器開關(guān)鍵, 當(dāng)面板后部的設(shè)置鍵3置為ON時,儀器在停止使用達(dá)16分鐘時會自動 維修美國NanoMap-PS臺階儀 維修美國NanoMap-PS臺階儀 【探針接觸式輪廓儀】臺階儀,全新美國進(jìn)口臺階儀 性價比高 NanoMap-PS是一款專門為nm級薄膜測量研發(fā)的無需防震臺即可測量的接觸式臺階儀 AFM同款位移傳感器，超高精度 壓電陶瓷驅(qū)動掃描，無內(nèi)源振動 自集成主動反饋式防震系統(tǒng) 真正無需額外輔助防震系統(tǒng)，實現(xiàn)高重復(fù)性納米測量 納米量級科學(xué)研究的*產(chǎn)品 NanoMap-PS臺階儀可以應(yīng)用在半導(dǎo)體，光伏/太陽能，光電子，化合物半導(dǎo)體，OLED，生物醫(yī)藥，PCB封裝等領(lǐng)域的薄膜厚度，臺階高度，粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），劃痕深度，磨損深度，薄膜應(yīng)力（曲定量率半徑法）等定量測量方面。其高精度，高重復(fù)性，自動探索樣品表面，自動測量深受廣大客戶歡迎。 測量表面可以覆蓋多種材料表面：金屬材料、陶瓷材料、生物材料、聚合物材料等等，對于植物表面，生物材料，聚合物表面，光刻膠等“柔軟表面”也可測量無須擔(dān)心劃傷或破壞。設(shè)備傳感器精度高，穩(wěn)定性好。熱噪聲是同類產(chǎn)品的。垂直分辨率可達(dá)0.1nm?？蓽y表面，包括透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料，金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學(xué)材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒等；
垂直分辨率 0.1nm 垂直量程 1000um 平臺范圍 直徑150毫米（可選200毫米或更大） 金剛石探針 0.5um到25um可選 |
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