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EL檢測設(shè)備組件電池片內(nèi)部缺陷測試

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產(chǎn)品型號LX-Z230

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所在地蘇州市

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更新時間：2020-07-25 14:38:39瀏覽次數(shù)：585次

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蘇州萊科斯新能源科技有限公司

經(jīng)營模式：生產(chǎn)廠家

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所在地區(qū)：江蘇蘇州市

聯(lián)系人：陳楓（經(jīng)理）

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產(chǎn)品簡介

測量范圍	-20℃~120℃；0℃~650℃；智能切換溫度量程	測量精度	咨詢
產(chǎn)地	國產(chǎn)	加工定制	是
外形尺寸	咨詢mm	重量	咨詢kg

在太陽能電池片生產(chǎn)中，EL檢測設(shè)備組件電池片內(nèi)部缺陷測試LX-Z500可以應(yīng)用于太陽能電池片分機來識別機器視覺系統(tǒng)不容易識別的內(nèi)部缺，1秒鐘測試太光伏組件內(nèi)部缺陷隱裂檢測儀。

詳細介紹

在太陽能電池片生產(chǎn)中，EL檢測設(shè)備組件電池片內(nèi)部缺陷測試LX-Z500可以應(yīng)用于太陽能電池片分機來識別機器視覺系統(tǒng)不容易識別的內(nèi)部缺陷，如黑心、黑斑、斷柵、隱裂、碎片等缺陷。在電池片、硅片的分選中，普通的缺陷、顏色可通過機器視覺系統(tǒng)進行識別判斷，但對于一些內(nèi)部缺陷系統(tǒng)不易識別或容易漏檢，這樣就導(dǎo)致分選設(shè)備誤判或漏判分選效率不高。目前的EL檢測儀技術(shù)可實現(xiàn)電池片正、反缺陷、顏色、內(nèi)部缺陷進行識別判斷分選，檢測速度達到同類水平，檢測效率大幅提高。

正規(guī)廠家！原裝研發(fā)！蘇州萊科斯主研發(fā)便攜式EL檢測儀、戶外光伏檢測儀、便攜式el測試儀、及施工安裝光伏，主要針對單晶多晶電池組件的內(nèi)部缺陷檢測，推出適合中國客戶的光伏組件EL測試儀銷售戶外便攜式el測試儀，可以滿足各實驗室及國企晶硅組件el質(zhì)量檢驗規(guī)范，滿足各新能源施工安裝光伏電站晶體硅光伏組件現(xiàn)場到貨驗EL測試儀全稱為電致發(fā)光用于檢測太陽能電池組件的內(nèi)部缺陷、隱裂、碎片、虛焊、斷柵以及不同轉(zhuǎn)換效率單片電池異常現(xiàn)象。1光伏電站運行維護和光伏組件經(jīng)銷商進貨和發(fā)貨和光伏組件安裝施工公司現(xiàn)場測試2高清便攜式太陽能組件測試儀收規(guī)程。

EL測試儀全稱為電致發(fā)光用于檢測太陽能電池組件的內(nèi)部缺陷、隱裂、碎片、虛焊、斷柵以及不同轉(zhuǎn)換效率單片電池異常現(xiàn)象。1光伏電站運行維護和光伏組件經(jīng)銷商進貨和發(fā)貨和光伏組件安裝施工公司現(xiàn)場測試2高清便攜式太陽能組件測試儀, EL檢測設(shè)備組件電池片內(nèi)部缺陷測試,給你太陽能電站*的運維解決方案3輕便安全高效的戶外便攜式EL檢測儀, 1秒鐘測試太光伏組件內(nèi)部缺陷隱裂檢測儀。

參數(shù)配置 Product configuration

名稱		參數(shù)
檢測對象		單晶組件	多晶組件	雙玻組件	薄膜組件
檢測范圍		隱裂	斷柵	碎片	破片
		燒結(jié)網(wǎng)紋	工藝污染	黑芯	黑邊
		虛焊	邊緣過刻	衰減	混檔
		低效率片	PID	熱斑衰減	崩邊缺角.等
光學(xué) 檢測模塊	分辨率	2500萬像素（4000 X 6000）
	芯片	23.6 x 15.6mm 進口工業(yè)紅外CMOS（SONY）
	紅外鏡頭	100萬像素 D20M廣角高解析率紅外鏡頭
		95%取景畫面覆蓋/電子光圈/17mm視點/EL成像色散率低于2%
	對焦方式	lailx⑧ 全時暗光自動對焦（0秒）達到免對焦能力
		5m范圍內(nèi)無需任何輔助對焦或視頻對焦在任意角度即移即測
		54點全平面對焦，非點對焦
	EL光學(xué)	紅外picle解析存儲系統(tǒng)，成像畫質(zhì)更清晰
	數(shù)據(jù)存儲	內(nèi)存卡/平板/電腦
	檢測速度	0.1~45S（自定義）
	曝光時間	1/250~60s（自定義）
	檢測精度	＞0.2mm/pixel
	光學(xué)精度	可在0.1A電流下進行EL檢測
	紅外鏡頭	可實現(xiàn)0.7mm以上精度要求測試
	無線模塊	4G wifi 模塊
	顯示屏	103.68萬像素液晶屏（旋轉(zhuǎn)屏）
	A8芯片同步檢測	可一次性同步高清檢測1~2塊電池組件的內(nèi)部隱裂缺陷可一次性同步高清檢測2~6塊電池組件的失配混檔低效率片
	檢測方式	移動端：平板 / 手機（wifi無線操作）電腦端：連線掃碼檢測（條碼錄入及統(tǒng)計修正）相機端：手持式檢測
光學(xué)屏蔽		光線：燈光/月光/星光/凌晨傍晚低輻照度太陽光對測試無影響白天檢測時間：300輻照度以上需紅外屏蔽模塊，300輻照度以下可直接測試
測試參數(shù)		高電流隱裂測試/弱電流衰減測試可切換檢測
電腦		華為（平板） 10英寸，32G