詳細(xì)摘要: *平行平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來(lái)測(cè)量被測(cè)量面的誤差程度
產(chǎn)品型號(hào):所在地:上海更新時(shí)間:2022-08-15 在線留言明茲精密儀器(上海)有限公司
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經(jīng)營(yíng)模式:經(jīng)銷(xiāo)商
商鋪產(chǎn)品:117條
所在地區(qū):上海上海市
聯(lián)系人:銷(xiāo)售 (銷(xiāo)售)
詳細(xì)摘要: *平行平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來(lái)測(cè)量被測(cè)量面的誤差程度
產(chǎn)品型號(hào):所在地:上海更新時(shí)間:2022-08-15 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
商 鋪:明茲精密儀器(上海)有限公司 http://m.liuyangwu.com/st128410/
主營(yíng)產(chǎn)品:顯微鏡
移動(dòng)端:明茲精密儀器(上海)有限公司手機(jī)站
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