詳細(xì)摘要： F3-sX系列膜厚儀F3-sX系列膜厚儀能測量半導(dǎo)體與介電層薄膜厚度到3毫米,而這種較厚的薄膜與較薄的薄膜相比往往粗糙且均勻度不好；波長選配F3-sX系列使用近...
產(chǎn)品型號：F3-sX系列所在地：上海更新時間：2023-05-09 在線留言上海納嘉儀器有限公司
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