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閱讀：27發(fā)布時(shí)間：2026-3-29
CEMS顆粒物分析儀的實(shí)驗(yàn)性能測(cè)試技術(shù)指標(biāo)與現(xiàn)行的現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)技術(shù)指標(biāo)對(duì)比，主要增加了重復(fù)性、周漂移、溫度影響、電壓影響、振動(dòng)影響5個(gè)技術(shù)性能指標(biāo)要求，其中典型實(shí)驗(yàn)性能測(cè)試指標(biāo)（重復(fù)性和周漂移）、環(huán)境條件的影響測(cè)試指標(biāo)三個(gè)（溫度影響、電壓影響、振動(dòng)影響）。
系統(tǒng)在量程點(diǎn)處的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差為系統(tǒng)的重復(fù)性。
重復(fù)性檢測(cè)使用零點(diǎn)裝置和量程點(diǎn)裝置。重復(fù)性用相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差表示。重復(fù)性監(jiān)測(cè)步驟：a.將顆粒物CEMS進(jìn)入校準(zhǔn)狀態(tài)，使用零點(diǎn)裝置調(diào)零，穩(wěn)定后讀取數(shù)值；b.然后切換至量程點(diǎn)裝置，待示值穩(wěn)定后，讀取數(shù)值，然后回零；c.重復(fù)上述兩步驟6次，計(jì)算相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差，計(jì)算公式同氣態(tài)污染物。
系統(tǒng)維護(hù)周期應(yīng)不低于7天，顆粒物檢測(cè)單元的零點(diǎn)漂移/周和量程漂移/周。168小時(shí)后，分別置入零點(diǎn)和量程點(diǎn)裝置，待度數(shù)穩(wěn)定后記錄相關(guān)讀數(shù)，分別計(jì)算零點(diǎn)周漂移和量程周漂移。
顆粒物監(jiān)測(cè)單元屬于室外設(shè)備，環(huán)境溫度變化-20℃~50℃之間。顆粒物監(jiān)測(cè)單元在零點(diǎn)和量程點(diǎn)處受環(huán)境溫度變化影響的相對(duì)偏差。
溫度的影響在恒溫室內(nèi)進(jìn)行，使用零點(diǎn)裝置和量程點(diǎn)裝置。溫度影響的檢測(cè)步驟：a.將顆粒物CEMS放入恒溫室內(nèi)，在20℃條件下穩(wěn)定2小時(shí)后監(jiān)測(cè)器零點(diǎn)和量程點(diǎn)的初始讀數(shù)；b.改變恒溫室溫度，在某一溫度穩(wěn)定2小時(shí)后，置入零點(diǎn)和量程點(diǎn)裝置，穩(wěn)定后讀書(shū)。
電壓在標(biāo)稱電壓的±10%范圍內(nèi)變化時(shí)，顆粒物監(jiān)測(cè)單元在零點(diǎn)和量程點(diǎn)處的相對(duì)偏差應(yīng)滿足要求。如采用直流供電時(shí)系統(tǒng)必須配合自適應(yīng)的直流電器。電壓影響的測(cè)試方法與氣態(tài)污染物相同。
系統(tǒng)由于振動(dòng)引起的零點(diǎn)相對(duì)偏差和量程點(diǎn)相對(duì)偏差。
振動(dòng)影響檢測(cè)使用零點(diǎn)裝置和量程點(diǎn)裝置。震動(dòng)影響檢測(cè)步驟：a.顆粒物CEMS上電穩(wěn)定后，數(shù)據(jù)采集處理系統(tǒng)開(kāi)始記錄系統(tǒng)輸出數(shù)據(jù)，穩(wěn)定后檢測(cè)零點(diǎn)讀數(shù)和初始量程點(diǎn)讀數(shù)；b.將系統(tǒng)按照產(chǎn)品說(shuō)明書(shū)規(guī)定的正常安裝方式安裝在振動(dòng)臺(tái)上；c.調(diào)整位移幅值，然后以對(duì)數(shù)規(guī)律進(jìn)行掃頻；d.振動(dòng)完后恢復(fù)2小時(shí)；e.分別依次置入零點(diǎn)裝置和量程點(diǎn)裝置，待示值穩(wěn)定后，讀書(shū)3次；計(jì)算三次讀數(shù)平均值與初始讀數(shù)的偏差，再除以所系統(tǒng)滿量程值，所得相對(duì)偏差分別為零點(diǎn)處振動(dòng)影響和量程點(diǎn)處的振動(dòng)影響。
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