北京中芯云科儀器有限公司
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產(chǎn)品型號(hào)
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廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地北京市
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更新時(shí)間：2025-06-18 20:45:25瀏覽次數(shù)：400次
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HTMS-1000型高低溫方阻測(cè)試系統(tǒng)是一款用于測(cè)量半導(dǎo)體薄膜和薄片的導(dǎo)電性能的測(cè)試系統(tǒng)，產(chǎn)品應(yīng)用范圍廣,能夠滿足導(dǎo)電功能薄膜材料、半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電玻璃材料、石墨烯等其它導(dǎo)電材料的測(cè)試需求；可以在高溫、真空氣氛的條件下測(cè)量半導(dǎo)體材料電阻和電阻率，可以分析被測(cè)樣品電阻和電阻率隨溫度、時(shí)間變化的曲線?？梢栽诟邷?、真空氣氛的條件下測(cè)量半導(dǎo)體材料電阻和電阻率，可以分析被測(cè)樣品電阻和電阻率隨溫度、時(shí)間變化的
HTMS-1000型高低溫方阻測(cè)試系統(tǒng)
一、 產(chǎn)品介紹：
HTMS-1000型高低溫方阻測(cè)試系統(tǒng)是一款用于測(cè)量半導(dǎo)體薄膜和薄片的導(dǎo)電性能的測(cè)試系統(tǒng)，產(chǎn)品應(yīng)用范圍廣,能夠滿足導(dǎo)電功能薄膜材料、半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電玻璃材料、石墨烯等其它導(dǎo)電材料的測(cè)試需求；可以在高溫、真空氣氛的條件下測(cè)量半導(dǎo)體材料電阻和電阻率，可以分析被測(cè)樣品電阻和電阻率隨溫度、時(shí)間變化的曲線?？梢栽诟邷?、真空氣氛的條件下測(cè)量半導(dǎo)體材料電阻和電阻率，可以分析被測(cè)樣品電阻和電阻率隨溫度、時(shí)間變化的曲線。
一、產(chǎn)品主要特點(diǎn)：
1.產(chǎn)品采用高精度源表設(shè)計(jì)，測(cè)試范圍寬，測(cè)量精度高，能夠?qū)崿F(xiàn)電阻率、電導(dǎo)率的測(cè)量
2.控溫范圍廣，可以從室溫到-1000度可控
3.可實(shí)現(xiàn)常溫、高溫、恒溫條件的測(cè)試，具備I-V、R-T、R-t等測(cè)試項(xiàng)目
4.最慢升溫速率不低于10℃/min，且升溫速率從0至Z高升溫速率線性可調(diào)；
5.具備加熱故障監(jiān)視診斷功能，需保證使用過程的安全；
6.支持實(shí)時(shí)測(cè)試結(jié)果顯示，帶USB接口，方便數(shù)據(jù)拷貝與傳輸；
二、產(chǎn)品主要技術(shù)參數(shù)：
1、控溫范圍；-150 ℃-1000 ℃，精度：-150 ℃-1000 ℃，精度±1 ℃
2、測(cè)量范圍：電 阻：1×10-6～1×10-1 Ω ， 分辨率：1×10-7Ω
電阻率：1×10-7～1×10-2 Ω-mm， 分辨率：1×10-8
3、 材料尺寸：200mm*5mm*1mm,500mm*5mm*1mm,1000mm*5mm*1mm
4、 四線探針；0.5 mm-0.7mm
5、夾具：針對(duì)不同的樣品可以設(shè)計(jì)不同的夾具
6、外形尺寸：主 機(jī) 1300mm（長(zhǎng)）×800 mm（寬）×500mm（高）
7、凈 重：≤60kg
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