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北京中芯云科儀器有限公司


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BKTEM-D3A型高溫材料熱電性能測試儀

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參   考   價: ¥ 1111

訂  貨  量: ≥1 件

具體成交價以合同協(xié)議為準

產品型號

品       牌其他品牌

廠商性質生產商

所  在  地北京市

聯(lián)系方式:謝偉華查看聯(lián)系方式

更新時間:2025-06-19 08:02:13瀏覽次數(shù):308次

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經營模式:生產廠家

商鋪產品:200條

所在地區(qū):北京北京市

聯(lián)系人:謝偉華 (經理)

產品簡介
產地 國產 加工定制 否

BKTEM-D3A型高溫材料熱電性能測試儀是一款集成度高的,應用對于熱電材料熱電性質參數(shù)賽貝克系數(shù)和電導率進行測量。

詳細介紹

BKTEM-D3A型高溫材料熱電性能測試儀

關鍵詞:賽貝克系數(shù)測試儀,熱電材料,高溫熱電  

塞貝克效應也叫熱電效應,兩個不同的電導體或半導體之間的溫差在兩種物質之間產生電壓差,當熱量施加到兩個導體或半導體中的一個時,加熱的電子便會流向較冷的導體或半導體。熱電材料的研究在能量保存和能源替代方面有著重要的作用,而熱電系數(shù)是熱電材料的主要參數(shù)之一通過研究不同溫度下的熱電系數(shù)并配合理論模型可得到載流子類型和能帶結構信息等.主要應用于能源效率,替代能源,汽車和燃料消耗等研究.

BKTEM-D3A型高溫材料熱電性能測試儀是一款集成度高的,應用對于熱電材料熱電性質參數(shù)賽貝克系數(shù)和電導率進行測量。

BKTEM-D3A型高溫材料熱電性能測試儀

 

主要應用領域:

1、半導體行業(yè)

2、能源和環(huán)境工程

3、熱電測量

4、制冷行業(yè)

5、大學研究與教學

6、材料:半導體、金屬與合金

7、工業(yè)領域:汽車/航空/航天,開發(fā)研究和學術研究,半導體行業(yè)/傳感器/熱電發(fā)電機/制冷設備

 

二:儀器測試原理結構圖

三:主要熱電材料體系:

Bi2Te3/Sb2Te3體系

PbTe體系

SiGe體系

CoSb3為代表的方鉆礦型熱電材料

Zn4Sb3  

 

技術特點:

可控溫場下可同步測量賽貝克系數(shù)和電阻率

標準配置進口高級商用吉時利(Keithley )數(shù)采儀表,避免電路板集成數(shù)據(jù)采集技術帶來的干擾誤差

Keithley技術:

100nV rms 噪音本底

直流電壓靈敏度低至 10nV,基本精度為 0.002%(90天)

7ppm DCV 可重復性,基本 1 年 DCV 準確度:0.0028%

讀取速度范圍:2k 讀數(shù)/秒;

溫度分辨率:0.001℃;

交流電壓分辨率:0.1μV

電阻分辨率:1 μΩ

電流分辨率:1nA

低功耗歐姆測量模式

弱電流電路測試功能

偏置補償歐姆功能

檢定低壓元件又快又準確

提高測量精度的置信度

以低至 100μA 的源電流測量低阻抗,減少設備自發(fā)熱

進行電阻測量時控制測試電壓,避免擊穿可能已形成的任何氧化物或膜

消除會在系統(tǒng)環(huán)境中進行低電平電阻測量時產生錯誤的熱效應

提供更的低電阻測量

標配進口高級商用電流源(ADCMT),非電路板集成恒流源,避免無法精準輸出小電流而產生熱效應和測不準

恒流源參數(shù):0.000-220mA;恒流設置分辨率:100nA;恒流穩(wěn)定性:0.008+20nA/天

溫度范圍:RT up to 1200℃
控溫速率:0.01 –100K/min,可以節(jié)約用戶測試時間

配置垂直放樣結構,上下樣品支架夾持

測量范圍:賽貝克系數(shù):0.5μV/K-25V/K;電阻率:0.2μOhmm-2.5KOhmm

 0-80K溫差范圍可任意設置溫差值及溫差點的個數(shù)

 U-I曲線自動掃描,計算出合適的電流數(shù)值, 可以測量電導率;不會對大電阻樣品產生誤差

鉑金大電極設計,和樣品可充分接觸,對于不均勻樣品也可獲得良好的導電測試

熱電偶間距可以根據(jù)樣品尺寸調節(jié)后固定,滿足不同科研要求

精度:賽貝克系數(shù):±7%;電導系數(shù):±7%(熱電材料測試,非康銅標樣);

重復性:3%

高級應用程序控溫技術,包括溫差和測量步進等高級要求

自由升/降溫、控制溫度程序,進行升溫、恒溫與降溫過程中的數(shù)據(jù)測量 

熱電偶探針可選K、S、R型(無需鎧裝)配置,不會產生非常大的接觸電阻

自動壓力安全保護設計,進口美國航天級硬件配置,確保測試過程中不會發(fā)生爆炸

測量系統(tǒng):柱狀、片狀、長方體、薄膜等系統(tǒng)可選

 

技術規(guī)格

溫度范圍

RT up to 1200°C

控溫速率

0.01 – 100k/min

控溫精度

+/-0.25K

測量方法

賽貝克系數(shù):靜態(tài)直流電

電阻系數(shù):四端法

測量范圍

賽貝克系數(shù):0.5μV/K-25V/K

電阻率:0.2μOhmm-2.5KOhmm

分辨率

賽貝克系數(shù):10nV/K

電阻率:10nOhmm

精度

賽貝克系數(shù): ± 5 %

電導系數(shù):± 7 %

重復性

3%

電流

0 to 220 mA(可控精準≤0.005mA)

恒流設置分辨率:100nA

恒流穩(wěn)定性:0.008+20nA/天

數(shù)據(jù)采集

100nV rms 噪音本底

直流電壓靈敏度低至 10nV,基本精度為 0.002%(90天)

7ppm DCV 可重復性,基本 1 年 DCV 準確度:0.0028%

讀取速度范圍:2k 讀數(shù)/秒

溫度分辨率:0.001℃;

交流電壓分辨率:0.1μV

電阻分辨率:1 μΩ

電流分辨率:1nA

氣氛

He、氧化、還原、真空(多種可選)

真空度

10E-3mbar

樣品尺寸

直徑或正方形:2 to 4 mm ;長度:6 to 22mm

 

 



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