詳細摘要： 大功率半導體測試系統(tǒng)華科智源STEC-1200A-MT電參數(shù)測試儀可用于多種封裝形式的 IGBT測試，還可以測量大功率二極管 、IGBT模塊，大功率 IGBT、...
產(chǎn)品型號：HUSTEC-1600A-MT所在地：深圳市更新時間：2024-04-25 在線留言深圳市華科智源科技有限公司
深圳市華科智源科技有限公司
詳細摘要： 大功率半導體測試系統(tǒng)華科智源STEC-1200A-MT電參數(shù)測試儀可用于多種封裝形式的 IGBT測試，還可以測量大功率二極管 、IGBT模塊，大功率 IGBT、...
產(chǎn)品型號：HUSTEC-1600A-MT所在地：深圳市更新時間：2024-04-25 在線留言
詳細摘要： 半導體分立器件測試系統(tǒng) 華科智源 系統(tǒng)采用帶有開爾文感應結構的測試插座，自動補償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證各種情況下測試結果的準確可靠。
產(chǎn)品型號：HUSTEC-DC-2020所在地：深圳市更新時間：2023-10-09 在線留言
詳細摘要： ITC55100雪崩能量測試儀是原成功產(chǎn)品ITC5510的升級版本，它能執(zhí)行ITC5510系列的所有測試，同時增加了許多功能，如提高測試精度，測試結果的收集，查...
產(chǎn)品型號：ITC55100所在地：深圳市更新時間：2023-06-29 在線留言
詳細摘要： 華科智源-功率器件浪涌電流測試儀，可測試二極管，MOS，IGBT，以及SIC器件浪涌電流能力，可輸出底寬10ms，8.3ms，1ms，10us等正弦半波或方波，...
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2023-06-29 在線留言
詳細摘要： 品牌： 華科智源名稱： 雪崩能量測試儀用途： 用于 IGBT、FRD、MOS器件單脈沖及重復脈沖雪崩能量測試
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2023-06-29 在線留言
詳細摘要： 華科智源-功率循環(huán)老化設備主要是針對IGBT/SIC的封裝可靠性行進行實驗,通過控制實驗條件再現(xiàn)IGBT封裝的主要兩種失效方式:鍵合線失效和焊料層老化。實驗的關...
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2023-06-29 在線留言
詳細摘要： SIC碳化硅器件參數(shù)測試儀功能及主要參數(shù)：適用碳化硅二極管、IGBT模塊\\MOS管等器件的時間參數(shù)測試。
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2023-06-29 在線留言
詳細摘要： IGBT雙脈沖測試平臺該設備用于功率半導體模塊（IGBT、FRD、肖特基二極管等）的動態(tài)參數(shù)測試，以表征器件的動態(tài)特性，通過特制測試夾具的連接，實現(xiàn)模塊的動態(tài)參...
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2023-06-29 在線留言
詳細摘要： 雪崩能量測試儀 華科智源主要用于 IGBT、FRD、MOS器件單脈沖及重復脈沖雪崩能量測試。測試電流 200A，電壓 4500V，雪崩能量可達2000J。測試的...
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2023-05-15 在線留言
詳細摘要： 華科智源HUSTEC-1600A-MT電參數(shù)測試儀可用于多種封裝形式的 IGBT測試，還可以測量大功率二極管 、IGBT模塊，大功率 IGBT、大功率雙極型晶體...
產(chǎn)品型號：HUSTEC-1600A-MT所在地：深圳市更新時間：2023-05-15 在線留言
詳細摘要： 半導體分立器件測試系統(tǒng) 華科智源 系統(tǒng)采用帶有開爾文感應結構的測試插座，自動補償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證各種情況下測試結果的準確可靠。
產(chǎn)品型號：HUSTEC-5000所在地：深圳市更新時間：2020-10-23 在線留言
詳細摘要： HUSTEC-580*檢測儀系統(tǒng) 華科智源掃描需要檢測的SMT貼片*PCB，智能框獲取PCB實物掃描圖片，導入BOM清單和PCB元件貼片坐標。軟件對PCB圖片、...
產(chǎn)品型號：TC57300mos管所在地：深圳市更新時間：2020-10-23 在線留言
詳細摘要： 臺式桌面型SMT*檢測儀系統(tǒng) 華科智源 將BOM，坐標及圖紙進行完美核對，實時顯示檢測情況，避免漏檢，可方便根據(jù)誤差范圍 對元件值合格值自動判定，對多貼，錯料，...
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2020-10-23 在線留言
詳細摘要： IGBT功率器件動態(tài)參數(shù)測試儀 華科智源 主機可執(zhí)行非破壞性的瞬態(tài)測量測試，包括對半導體器件絕緣柵雙極晶體管（IGBT），功率MOSFET，二極管，雙極型器件的...
產(chǎn)品型號：TC57300mos管所在地：深圳市更新時間：2020-10-23 在線留言
詳細摘要： 半導體分立器件測試儀 華科智源 升級擴展性強，通過選件可提高電壓電流，和增加測試品種范圍。支持電壓電流階梯升級至2000V,1250A;采用脈沖測試法，脈沖寬度...
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2020-10-23 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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