美國THERMO/CalMetrics X-RAY鍍層膜厚測試儀標準片

測厚儀標準片又名膜厚儀校準片,專業(yè)用于測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度的時候進行標準化校準.也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量和強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB,五金電鍍,半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。

測厚儀標準片一般分為單鍍層片，雙鍍層片,多鍍層片,合金鍍層片,化學鍍層片。如:

單鍍層：Ag/xx, 雙鍍層：Au/Ni/xx , 三鍍層：Au/Pd/Ni/xx, 合金鍍層：Sn-Pb/xx, 化學鍍層：Ni-P/xx.

我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素,鍍層結(jié)構,鍍層厚度等要求向美國工廠定做標準片,并可出據(jù)標準片厚度值證書.