鉑悅儀器（上海）有限公司
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鉑悅儀器（上海）有限公司
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)MProbe NIR
品 牌
廠(chǎng)商性質(zhì)經(jīng)銷(xiāo)商
所 在 地上海市
聯(lián)系方式：史書(shū)華查看聯(lián)系方式
更新時(shí)間：2026-02-27 08:30:17瀏覽次數(shù)：76次
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經(jīng)營(yíng)模式：經(jīng)銷(xiāo)商
商鋪產(chǎn)品：113條
所在地區(qū)：上海上海
聯(lián)系人：史書(shū)華 （市場(chǎng)部）
產(chǎn)品描述：采用近紅外光譜(NIR)的測(cè)厚儀可以用于測(cè)量一些可見(jiàn)光和紫外光無(wú)法使用的應(yīng)用領(lǐng)域
采用近紅外光譜(NIR)的測(cè)厚儀可以用于測(cè)量一些可見(jiàn)光和紫外光無(wú)法使用的應(yīng)用領(lǐng)域，比如在可見(jiàn)光范圍內(nèi)有吸收的太陽(yáng)能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的測(cè)量。
測(cè)量范圍: 100 nm -200um
波長(zhǎng)范圍: 900 nm -2500 nm
適用于實(shí)時(shí)在線(xiàn)測(cè)量，多層測(cè)量，非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(kù)(超過(guò)500材料)，新材料可以很容易的添加，支持多重算法：Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等
測(cè)量指標(biāo)：薄膜厚度，光學(xué)常數(shù)
界面友好*: 一鍵式測(cè)量和分析。
實(shí)用的工具：曲線(xiàn)擬合和靈敏度分析，背景和變形校正，連接層和材料，多樣品測(cè)量，動(dòng)態(tài)測(cè)量和產(chǎn)線(xiàn)批量處理。
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