無(wú)錫誠(chéng)成儀器儀表有限公司
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更新時(shí)間:2022-08-13 10:44:27瀏覽次數(shù):160次
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AgilentN5250A毫米波網(wǎng)絡(luò)分析儀N5250CAgilentN5250A毫米波PNA系列網(wǎng)絡(luò)分析儀,10MHz至110GHzN5250A用單掃描測(cè)量使頻率覆蓋達(dá)到10MHz至110GHz

Agilent N5250A 毫米波 PNA 系列網(wǎng)絡(luò)分析儀, 10 MHz 至 110 GHz
N5250A用單掃描測(cè)量使頻率覆蓋達(dá)到10MHz至110GHz。緊湊的測(cè)試頭和2個(gè)內(nèi)裝合成器把占用空間減到最小,同時(shí)也降低了總維護(hù)成本。
主要特性與技術(shù)指標(biāo)
10 MHz至110 GHz單掃描頻率范圍
端口1接25 dB微米衰減器
32 個(gè)通道,每條跡線有 16,001 個(gè)測(cè)量點(diǎn)
2種新的校準(zhǔn)能力,基于數(shù)據(jù)的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)和擴(kuò)展的校準(zhǔn)算法,提供增強(qiáng)的精度和設(shè)計(jì)可靠性
帶有偏置T型接頭(Bias- Tees)的可選毫米波模塊及端口2衰減器
在30至300 GHz之間,毫米波測(cè)量的應(yīng)用正在增加。從高數(shù)據(jù)速率到汽車(chē)行業(yè)再到射電天文學(xué),靈活的測(cè)量解決方案正日益顯現(xiàn)出它的優(yōu)勢(shì)。在這些應(yīng)用中,毫米波測(cè)量解決方案就必須遵守很多規(guī)則。例如,探測(cè)環(huán)境中的晶圓器件表征,或通過(guò)波導(dǎo)或同軸接口進(jìn)行模塊測(cè)試。解決方案還包括夾具中或自由空間的材料測(cè)量,或室外/室內(nèi)天線測(cè)試。
與低于3 GHz的應(yīng)用相比,當(dāng)前對(duì)毫米波元器件的要求相對(duì)較低,但是期望性能卻非常高。因此,頻率范圍和測(cè)量能力可擴(kuò)展的測(cè)量解決方案將提供更大的靈活性,以適應(yīng)多種應(yīng)用。
在許多新興電子技術(shù)中,最初的元器件(例如,在晶圓上制作的器件)是基本的構(gòu)建模塊。之后,這些器件被切成方塊,并通過(guò)引線鍵合加入到電路中,最終變成高度集成的模塊,增加了功能并被封裝成很小的體積。在作為模塊進(jìn)行進(jìn)一步測(cè)試之前,器件是表征的晶圓。測(cè)試這些晶圓器件時(shí)所獲得的數(shù)據(jù)可用于參數(shù)提取,以建立模型,之后模型就可用于電路仿真了。
進(jìn)行毫米波測(cè)量
建立精確的電路仿真模型需要高質(zhì)量、220-GHz的探測(cè)解決方案。例如,圖1顯示了從140至220 GHz的50納米T選通變形GaAs HEMT晶圓測(cè)量1??赏瑫r(shí)觀看所有的4個(gè)S參數(shù)。請(qǐng)看左下方的跡線S21,在大約150 GHz處與X軸相交。為了揭示設(shè)備的真實(shí)增益,需要使用.s2p文件(原始數(shù)據(jù))進(jìn)行去嵌入處理,該處理過(guò)程可在網(wǎng)絡(luò)分析儀內(nèi)部進(jìn)行也可脫機(jī)進(jìn)行。
使用Agilent N5250A PNA系列毫米波網(wǎng)絡(luò)分析儀(帶有140至220GHz(N5260AW05)測(cè)試探頭模塊)進(jìn)行測(cè)量,采用Cascade Microtech公司的Summit系列12K探針臺(tái)可進(jìn)行晶圓測(cè)量。(圖2顯示了系統(tǒng)的110-GHz版本)。全部雙端口晶圓校準(zhǔn)使用Cascade Microtech的WinCal 2006校準(zhǔn)軟件進(jìn)行,執(zhí)行順序?yàn)橹蓖ā⒎瓷?、反射、匹配(LRRM)。
Agilent N5250C PNA 毫米波網(wǎng)絡(luò)分析儀,10 MHz 至 110 GHz
主要特性與技術(shù)指標(biāo)
最多 8 個(gè)項(xiàng)目符號(hào),帶一個(gè)或不帶標(biāo)題
最多 4 個(gè)標(biāo)題,每個(gè)標(biāo)題最多包含 4 個(gè)項(xiàng)目符號(hào)
可能包括任意鏈接——最多3個(gè)
單次掃描頻率范圍為 10 MHz 至 110 GHz
端口 1 有 25 dB 微米衰減器
64 個(gè)測(cè)量通道,每條跡線有 20,001 個(gè)測(cè)量點(diǎn)
基于數(shù)據(jù)的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)和擴(kuò)展的校準(zhǔn)算法,提供更佳的精度和更強(qiáng)的設(shè)計(jì)自信心
可選的頻率擴(kuò)展(至 0.5 THz)
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