蘇州英飛思科學儀器有限公司
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閱讀：225發(fā)布時間：2022-3-24
EDX8000B熒光測厚儀應用于金屬鍍層涂層材料成分和厚度分析
涂層分析可以告訴你很多關于材料、物品等的內容。的例子：可以測量由某種合金制成的細節(jié)的含量，而不會對其造成損壞。應用分析的另一種方法是通過測量珠寶來識別有害或過多的雜質和鍍金。涂層厚度分析幾乎可以應用于重工業(yè)和輕工業(yè)、建筑、公用事業(yè)等的每個領域。
哪些行業(yè)必須進行涂層厚度測量？
電鍍厚度
由于使用 XRF 8000膜厚儀進行涂層厚度測量可以獲得準確的覆蓋層元素組成，因此其設備領域眾多：
控制生產質量的輕重工業(yè)；
需要對金屬和合金含量和金屬分選進行精確測試的冶金；
油漆和清漆行業(yè)：生產中鉛濃度分析；
首飾：鑒別首飾中的鍍金和其他金屬。
至于鍍層厚度測試，XRF 分析廣泛用于公用事業(yè)服務和工業(yè)。在大多數(shù)情況下，它有助于猜測細節(jié)是否滿足所需的特征，這在某些領域（例如航空航天建筑）至關重要。
典型的涂層鍍層類型有：
· 鐵/鋼上鍍鋅；
· 鐵/鋼鍍鉻；
· 鐵/鋼鍍鎳；
· 鐵/鋼上鍍銅；
· 銅鍍金；
· 銅鍍鎳；
XRF 鍍層測厚儀EDX8000B如何測量涂層厚度和材料成分？
顧名思義，XRF 涂層厚度測試儀會發(fā)出 X 射線。這些射線使內層用電子射向原子。該過程稱為電離。當來自原子涂層內層的電子被彈出而電子不存在時，原子用圍繞原子核旋轉的外層電子代替它。這種替代會發(fā)出所謂的熒光輻射。涂層厚度測量設備感知這種輻射并用它構建光譜。該光譜顯示在屏幕上，用戶可以在設置該涂層的主要元素時識別該涂層的厚度。 X 射線測厚儀成功地獨立于被測物體的形式和條件測量了單組分涂層。
使用 X 射線熒光鍍層測厚儀進行涂層測量的好處
自1928年（XRF分析發(fā)現(xiàn)年）以來，XRF金屬鍍層測厚儀設備得到了改進?，F(xiàn)在，這是一種非常有用和舒適的厚度分析方法，對用戶來說具有特殊的好處：涂層分析不會損壞材料：
無需切割涂層。
EDX8000鍍層厚度測試儀是一種多用途的移動工具：它可以分析各種形式和尺寸的物體。
分析本身進行得很快，可以為用戶提供非常準確的結果。
盡管有 X 射線應用，但這種測試對用戶來說是的方法之一。輻射以最小的、無害的量釋放，方向與用戶正好相反。
X射線熒光分析設備是一種在不停止生產和不損壞被測物品的情況下測試涂層和材料的現(xiàn)代方法。
使用50 瓦 X 射線管的 EDXRF 的穿透深度
XRF可穿透厚度表 | ||
鍍層材料 | 基材 | Thickness厚度（μm) |
Al | Cu | 0-100.0 |
Cd | Fe | 0-60.0 |
Cu | Al | 0-30.0 |
Cu | Fe | 0-30.0 |
Cu | Plastic | 0-30.0 |
Au | Ceramic | 0-8.0 |
Au | Cu/Ni | 0-8.0 |
Pb | Cu/Ni | 0-15.0 |
Ni | Ceramic | 0-20.0 |
Ni | Cu | 0-20.0 |
Ni | Fe | 0-20.0 |
Pd | Ni | 0-40.0 |
Pd-Ni | Ni | 0-20.0 |
Pt | Ti | 0-8.0 |
Rh | Cu/Ni | 0-50.0 |
Ag | Cu/Ni | 0-50.0 |
Sn | Al | 0-60.0 |
Sn | Cu/Ni | 0-60.0 |
Sn-Pb | Cu/Ni | 0-25.0 |
Zn | Fe | 0-40.0 |
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