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貴金屬檢測儀XF-A5S plus

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更新時間：2026-05-26 10:46:18瀏覽次數：478次

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西凡儀器（深圳）有限公司

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產品簡介

XF-A5S Plus貴金屬成分無損檢測儀是西凡儀器面向貴金屬成分無損檢測的一款X射線熒光光譜儀，可廣泛應用于珠寶首飾工廠以及回收等行業(yè)和單位。該產品采用目前的進口定制Fast-SDD探測器，內置四核CPU工控電腦，采用全新的垂直光路。檢測速度快，測試穩(wěn)定性好、準確性高，性價比。

詳細介紹

貴金屬檢測儀XF-A5S plus

產品介紹及展示

產品特點

元素檢測范圍：鉀(9)～鈾(No.92) 可支持最多30個元素同時計算

分析范圍：0.01%～99.99% 檢測精度：±0.01%(999金)

檢測樣品：固體/液體/粉末

定制TCP/IP協議API接口，支持外網對設備的控制、狀態(tài)監(jiān)控及數據采集

支持多點連續(xù)測試，測試效率高

內置ARM四核XRF專用電腦+Linux內核，無懼木馬和病毒軟件

選裝10工位轉盤，自動連續(xù)測試10個樣品

核心部件

探測器：AMPTEK定制版Fast-SDD探測器內置工控電腦：NXP IMX8四核Cortex-A53 XRF專用電腦

高壓電源：50KV/1mA數字高壓電源 X射線管：50KV/1mA

窗口材料：玻璃窗靶材：鎢

焦點：? 0.5mm 準直器：?1mm

產品規(guī)格

輸入電壓：AC100～240V，50Hz 產品包裝尺寸：565mmx535mmx500mm

產品尺寸：450mmx422mmx378mm 樣品艙尺寸：366mmx336mmx141mm

額定功率：<150W 毛重：49KG

凈重：37KG 噪音：50dB

使用環(huán)境：溫度：15℃～31℃
濕度：<70%（不結露）

選擇貴金屬檢測儀XF-A5S plus的四大理由