西凡儀器（深圳）有限公司
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更新時(shí)間：2026-05-26 10:50:45瀏覽次數(shù)：426次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來自 儀表網(wǎng)XF-P1型鍍層測厚儀是一款面向鍍層、膜厚、涂層行業(yè)厚度無損檢測的X射線熒光光譜儀，可廣泛應(yīng)用于涂層厚度產(chǎn)品質(zhì)量的管理。該產(chǎn)品既可以分析各種金屬涂層厚度以及成分分析，可同時(shí)分析基材和鍍材的成分及厚度。采用基本參數(shù)法算法，無需標(biāo)樣，檢測速度快，測試穩(wěn)定性好、準(zhǔn)確性高。 產(chǎn)品展示 產(chǎn)品特點(diǎn) 元素檢測范圍：鋁(3)～鈾(No.92) 分析范圍：50m 檢測精度：相對誤
XF-P1型鍍層測厚儀是一款面向鍍層、膜厚、涂層行業(yè)厚度無損檢測的X射線熒光光譜儀，可廣泛應(yīng)用于涂層厚度產(chǎn)品質(zhì)量的管理。該產(chǎn)品既可以分析各種金屬涂層厚度以及成分分析，可同時(shí)分析基材和鍍材的成分及厚度。采用基本參數(shù)法算法，無需標(biāo)樣，檢測速度快，測試穩(wěn)定性好、準(zhǔn)確性高。
元素檢測范圍：鋁(3)～鈾(No.92)
分析范圍：≤50μm
檢測精度：相對誤差≤±1%（最小基體影響）
檢測樣品：鍍層厚度/成分/液體濃度。
定制TCP/IP協(xié)議API接口，支持對模塊的控制、狀態(tài)監(jiān)控及數(shù)據(jù)采集
支持配件：XY平臺(tái)微動(dòng)裝置
XY雙軸行程：±15mm
輸入電壓：交流100～240V，50Hz
產(chǎn)品包裝尺寸：770mm x 510mm x 400mm
產(chǎn)品尺寸：467mm x 345mm x 336mm
樣品腔尺寸：306mm x 248mm x 124mm
額定功率：<150W
毛重：50KG
凈重：32KG
噪音：50dB
使用環(huán)境：
溫度：15℃～31℃
濕度：<70%（不結(jié)露）
探測器：AMPTEK定制版Fast-SDD探測器
內(nèi)置工控電腦：四核i5工控電腦
高壓電源：50KV/1mA數(shù)字高壓電源
X射線管：50KV/1mA
窗口材料：鈹窗
靶材：鎢
焦點(diǎn)：? 0.1mm
準(zhǔn)直器：0.1mm×0.2mm/0.2mm×0.5mm/?1.0mm
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