詳細摘要： 產品信息 特點 可處理高達2400mm的直管光學總光通量測量 測量系統(tǒng)符合IESNA的LM-79和LM-80標準 采用新的探測器，可以進行廣動態(tài)范圍的測量 測量...
產品型號：所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
大塚電子（蘇州）有限公司
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詳細摘要： 產品信息 特點 可處理高達2400mm的直管光學總光通量測量 測量系統(tǒng)符合IESNA的LM-79和LM-80標準 采用新的探測器，可以進行廣動態(tài)范圍的測量 測量...
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詳細摘要： 產品信息 特點 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度反射率（多層膜厚度，光學常數(shù)） 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學系統(tǒng)（紫外至近紅...
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詳細摘要： 以非接觸方式測量晶圓等的研磨和拋光工藝，超高速、實時、高精度測量晶圓和樹脂 產品詳細信息 特點 非接觸式，非破壞性厚度測量 反射光學系統(tǒng)（可從一側接觸測量） 高...
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詳細摘要： 產品信息 特點 可在紫外和可見（250至800nm）波長區(qū)域中測量橢圓參數(shù) 可分析納米級多層薄膜的厚度 可以通過超過400ch的多通道光譜快速測量Ellipso...
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詳細摘要： 即時檢測 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強酸環(huán)境中) 產品特色 非接觸式、非破壞性光學式膜厚檢測 采用分光干涉法實現(xiàn)高度檢...
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詳細摘要： 產品信息 特長 非接觸式測量不透明、粗糙，易變形的樣品 反復性?再現(xiàn)性高 無標準曲線也可知道厚度 測量徑很小，不受斑點的影響 樣品位置無需調整，放進去即可。 穩(wěn)...
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詳細摘要： 產品信息 特 長 薄膜到厚膜的測量范圍、UV~NIR光譜分析 高性能的低價光學薄膜量測儀 藉由反射率光譜分析膜厚 完整繼承FE-3000機種90%的*功能 無復...
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詳細摘要： 產品信息 特 點 采用分光干涉法 搭載高精度FFT膜厚解析系統(tǒng)（ 第4834847號） 使用光學光纖，可靈活構筑測量系統(tǒng) 可嵌入至各種制造設備。 實時測量膜厚 ...
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詳細摘要： 特點： 采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可測量， 對應CIE推薦的...
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詳細摘要： 產品信息 特點 只需一臺，輕松實現(xiàn)5檢體連續(xù)測量 低濃度到高濃度都可對應 高速測量，標準時間1分鐘 搭載了簡單的測量功能 (1鍵測量) 內置非浸泡型的cell ...
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詳細摘要： 產品信息 特點 使用了型高感度APD，感度提升及縮短測量時間 通過測量自動溫度梯度空間，可分析出変性?相轉移溫度 可測量0～90℃大范圍內的溫度 追加了大范圍的...
產品型號：所在地：更新時間：2022-10-13 在線留言
詳細摘要： 產品信息 特點 多角度測量，分辨率更高 粒子濃度測量 微流變學測量 凝膠網(wǎng)絡結構分析 新型平板cell unit 標準flow cell unit 可連續(xù)測量粒...
產品型號：所在地：更新時間：2022-10-13 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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