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Fluke 1621 接地電阻測試儀

移動使用的手持式接地測試儀

Fluke 1621 是一款簡單易用的接地測試儀。對于接地電阻測試場合，1621 是檢測可靠接地連接線路的*道防線。裝置采用多種基本的接地測試方法，其中包括三極電壓降測試法及兩極接地電阻測試法。它的尺寸輕巧方便，擁有結(jié)實的皮套以及清晰的寬大 LCD 顯示屏，使之成為大多數(shù)電氣接地工作場合的理想現(xiàn)場接地測試儀。 Fluke 1621 擁有簡單的用戶界面和直觀易用的功能，是一款電氣承包商、設備測試工程人員和接地專業(yè)人士*的手持式接地測試工具。

三極電壓降接地測試法進行基本的測量
兩極電阻測量法提供更多的功能
單鍵操作，輕松捕獲數(shù)值
自動“信噪”電壓檢測功能可確保精確的測量
危險電壓警告功能提供更高的用戶保護級別
大屏幕背光顯示屏便于清晰地讀取和記錄數(shù)據(jù)
結(jié)實耐用的皮套，設計用于苛刻的工作環(huán)境
小巧緊湊，方便攜帶
測量結(jié)果超過設定的限制值時立即發(fā)出警告（如果使用可調(diào)的限制設置）
600 V II 類

常規(guī)技術(shù)指標

測量功能

三極接地電阻，兩極交流電阻，干擾電壓

基本誤差

查閱參考溫度范圍，提供一年保修

測量速率

每秒測量 2 次

電池

1 個 9 伏堿性電池（LR61）

電池電量狀態(tài)

如果電壓低于 6.5 V，則會顯示 LO-BAT（低電量）

電壓

H/C2 和 E/C1 接頭之間：	大 250 Veff（有效電壓）
S/P2 和 E/C1 接頭之間：	大 250 Veff

氣候類別

VDE/VDI 3540 RZ（符合 KWG，每個 DIN 40040，4/87）

溫度性能

工作：	-10 °C 至 +50 °C（+14 °F 至 +122 °F）
操作：	0 °C 至 +35 °C（+32 °F 至 +95 °F）
存儲：	-20 °C 至 +60 °C（+68 °F 至 +140 °F）
參考：	+23 °C ± 2 °C （+73 °F ± 4 °F）

溫度系數(shù)

量程的 ± 0.1 %，每開氏溫度

安全

IEC/EN 61010-1，600 V，II 類，2 級污染

尺寸

113 毫米 x 54 毫米 x 216 毫米（（4.5 英寸 x 2.1 英寸 x 8.5 英寸），包括護套

重量

850 克（1.9 磅），包括標準附件，體積約 600 立方厘米

注：

如果不使用測試儀，或需要*存放，請卸下電池并與測試儀分開存放，以免電池泄露對測試儀造成損害。

注：

測試儀的 4 個溫度范圍符合歐洲安全標準要求；通過使用溫度系數(shù)來計算工作環(huán)境溫度下的準確度，儀器可在整個溫度范圍內(nèi)正常工作。

電氣技術(shù)指標

大偏差：

E1 影響因素	位置
E1 偏差影響	0%
E2 影響因素	電壓
E2 偏差影響	0%
E3 影響因素	溫度 E3
E3 偏差影響	2.3 %
E4 影響因素	串行干擾電壓（20 V）
E4 偏差影響	0.6 %
E5 影響因素	探針和輔助探針電阻
E5 偏差影響	10%

測試電壓

3.7 kV

保護等級

IP 40；IEC/EN 60529

電磁兼容性

	輻射：EC/EN 61326，B 類
	抗擾：IEC/EN 61326，附錄 C

R_E 電阻測量

測量方法	使用改進的串擾衰減方法進行電流-電壓測量，無需補償導線電阻測量，使用探針（三極）或不使用探針（兩極），符合 IEC/EN 61557-5 標準
開放電路電壓	23 至 24 V ac
短路電流	> 50 mA ac
測量頻率	128 Hz
大許可過載	250 Veff

測量時間

8 秒（從按“開始”起計算的平均值）

限制輸入

即使測試儀關(guān)閉，仍會保留設定值（如果電池電量充足）

自動切換分辨率

R_H	< 7 kΩ
分辨率	0.01 Ω
R_H	< 50 kΩ
分辨率	0.1 Ω
R_H	> 50 kΩ
分辨率	1 Ω

干擾直流和交流電壓顯示

大電壓	30 Veff
共模抑制	> 80 dB，50 Hz 和 60 Hz
Ri	680 kΩ
測量誤差	對于純交流電和直流電信號，< 10 %

量程

0.15 Ω 至 20 Ω

分辨率	0.01 Ω
顯示范圍	0 至 19.99 Ω

200 Ω

分辨率	0.1 Ω
顯示范圍	20 至 199.9 Ω

2 kΩ

分辨率	1 Ω
顯示范圍	200 至 1999 Ω

基本誤差

±（測量值的 6 % + 5 位數(shù)字）

操作誤差 IEC 61557

±（測量值的 18 % + 5 位數(shù)字）

注：

[1] 包括影響因素 E1-E5 造成的所有偏差。
如果高探針或輔助探針電阻造成的偏差 E4 高于值，即會閃爍。
測量值不在的操作誤差范圍內(nèi)。

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