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X熒光光譜測厚儀菲希爾膜厚儀丞普諾 *** 原子熒光光譜

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產(chǎn)品簡介

X熒光光譜測厚儀菲希爾膜厚儀丞普諾***詳細(xì)介紹應(yīng)用領(lǐng)域鍍層厚度測試;鍍層含量測試；鍍層成分分析達(dá)克羅測試rohs鹵素環(huán)保檢測重金屬有害物質(zhì)檢測技術(shù)指標(biāo)元素分析范圍從硫(S)到（U）

詳細(xì)介紹

X熒光光譜測厚儀菲希爾膜厚儀丞普諾 ***詳細(xì)介紹

應(yīng)用領(lǐng)域

鍍層厚度測試;鍍層含量測試；鍍層成分分析達(dá)克羅測試

rohs鹵素環(huán)保檢測重金屬有害物質(zhì)檢測

技術(shù)指標(biāo)
元素分析范圍從硫(S)到（U）。
一次可同時(shí)分析***多24個(gè)元素，五層鍍層
分析檢出限可達(dá)2ppm，***薄可測試0.005μm
分析含量一般為2ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
多次測量重復(fù)性可達(dá)0.1%
長期工作穩(wěn)定性可達(dá)0.1%
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：50KG